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芯片开短路测试装置

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202010385368.X
申请日：
2020-05-08
公开(公告)号：
CN111398792B
公开(公告)日：
2025-07-22
发明(设计)人：
周武林
申请人：
江西联智集成电路有限公司
申请人地址：
330096 江西省南昌市南昌高新技术产业开发区创新一路59号
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
G01R31/52 G01R31/54 G01R31/58
代理机构：
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人：
周天宇
法律状态：
授权
国省代码：
河北省 保定市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-07-22 授权 授权
共 50 条
[1]
芯片开短路测试装置 [P]. 
周武林 .
中国专利 :CN212275891U ,2021-01-01
[2]
芯片开短路测试装置 [P]. 
周武林 .
中国专利 :CN111398792A ,2020-07-10
[3]
芯片开短路测试装置及系统 [P]. 
沈丹禹 ;
杨卓豪 ;
宋海宏 .
中国专利 :CN207263883U ,2018-04-20
[4]
开短路测试装置 [P]. 
董亚明 ;
赵旭 .
中国专利 :CN112698240A ,2021-04-23
[5]
开短路测试装置 [P]. 
董亚明 ;
赵旭 .
中国专利 :CN112698240B ,2024-08-02
[6]
开短路测试装置及开短路测试设备 [P]. 
许佑祯 .
中国专利 :CN119556190A ,2025-03-04
[7]
一种芯片开短路测试装置 [P]. 
王锐 ;
卢灿恒 ;
莫军 .
中国专利 :CN222365062U ,2025-01-17
[8]
一种芯片引脚开短路测试装置 [P]. 
王锐 ;
苏斌华 ;
莫军 .
中国专利 :CN221977049U ,2024-11-08
[9]
一种存储芯片管脚的开短路测试装置 [P]. 
叶德明 ;
卢浩 ;
谢登煌 ;
卢世振 ;
龚佳 .
中国专利 :CN218213291U ,2023-01-03
[10]
一种芯片管脚的开短路测试装置 [P]. 
张昌征 ;
张国良 .
中国专利 :CN218497084U ,2023-02-17
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