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一种芯片开短路测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202420539570.7
申请日：
2024-03-19
公开(公告)号：
CN222365062U
公开(公告)日：
2025-01-17
发明(设计)人：
王锐
卢灿恒
莫军
申请人：
广芯微电子（广州）股份有限公司
申请人地址：
510555 广东省广州市黄埔区（中新广州知识城）亿创街1号406房之227
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
G06F13/42
G01R1/02
代理机构：
广州三环专利商标代理有限公司 44202
代理人：
姚心怡
法律状态：
授权
国省代码：
广东省
广州市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-01-17 | 授权 | 授权 |