性能测试方法、装置、计算机设备及介质

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申请号
CN202210372749.3
申请日
2022-04-11
公开(公告)号
CN114706741A
公开(公告)日
2022-07-05
发明(设计)人
王鹏
申请人
申请人地址
100085 北京市海淀区上地西路6号1幢1层101D1-7
IPC主分类号
G06F1134
IPC分类号
G06F9445
代理机构
北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138
代理人
李加欣
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
电池性能测试方法、装置、计算机设备以及存储介质 [P]. 
陈言教 ;
黄玉龙 .
中国专利 :CN113848497A ,2021-12-28
[2]
代码测试方法、装置、存储介质及计算机设备 [P]. 
夏文静 .
中国专利 :CN112363921A ,2021-02-12
[3]
性能测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
马文能 ;
陈桓 ;
张良杰 .
中国专利 :CN109753418B ,2019-05-14
[4]
性能测试方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品 [P]. 
郑天文 ;
王竟成 .
中国专利 :CN117573452A ,2024-02-20
[5]
性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
陈晰亮 .
中国专利 :CN108415847A ,2018-08-17
[6]
性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
杨帆 .
中国专利 :CN117271371B ,2024-03-12
[7]
性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
冷睿泽 .
中国专利 :CN118820108A ,2024-10-22
[8]
性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
张雪梅 .
中国专利 :CN108572918A ,2018-09-25
[9]
性能测试方法及装置、计算机设备、存储介质 [P]. 
李雅琼 .
中国专利 :CN110058990A ,2019-07-26
[10]
性能测试方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
杨丹丹 ;
杨阳 ;
吕斌 ;
詹子曦 ;
林英 .
中国专利 :CN117435448A ,2024-01-23