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一种半导体芯片测试座
被引：0
申请号：
CN202220418893.1
申请日：
2022-02-28
公开(公告)号：
CN217034039U
公开(公告)日：
2022-07-22
发明(设计)人：
罗一石
申请人：
申请人地址：
200000 上海市浦东新区泥城镇镇新城路2号24幢N2976室
IPC主分类号：
G01R104
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-07-22 | 授权 | 授权 |