一种能双向测试的雪崩测试电路

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专利类型
实用新型
申请号
CN201720003881.1
申请日
2017-01-04
公开(公告)号
CN206331079U
公开(公告)日
2017-07-14
发明(设计)人
周鹏 陈跃俊 郝瑞庭
申请人
申请人地址
100070 北京市丰台区海鹰路1号2号楼7层
IPC主分类号
G01R3126
IPC分类号
代理机构
北京国林贸知识产权代理有限公司 11001
代理人
李桂玲;杜国庆
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种消除场效应管雪崩测试电感误差电路及其测试方法 [P]. 
孙铣 ;
陈跃俊 .
中国专利 :CN105974293A ,2016-09-28
[2]
一种消除场效应管雪崩测试电感误差电路 [P]. 
孙铣 ;
陈跃俊 .
中国专利 :CN205880137U ,2017-01-11
[3]
雪崩耐量测试电路 [P]. 
杨炜光 .
中国专利 :CN108828422A ,2018-11-16
[4]
一种MOSFET雪崩测试电路 [P]. 
杨炜光 .
中国专利 :CN110412443A ,2019-11-05
[5]
一种兼容雪崩测试与双脉冲测试的测试电路及系统 [P]. 
李俊辉 ;
廖光朝 ;
张小兵 ;
胡绍国 .
中国专利 :CN223065435U ,2025-07-04
[6]
一种半导体雪崩能测试装置及测试方法 [P]. 
胡旭伟 .
中国专利 :CN120294531A ,2025-07-11
[7]
一种雪崩测试电路及方法 [P]. 
李俊辉 ;
颜荨 ;
胡绍国 ;
廖光朝 .
中国专利 :CN119780654A ,2025-04-08
[8]
一种雪崩耐量测试电路及测试设备 [P]. 
黄勇意 ;
黄辉 ;
傅俊寅 .
中国专利 :CN220323466U ,2024-01-09
[9]
一种功率器件的雪崩能量测试电路及测试方法 [P]. 
辛振 ;
连豪 ;
康建龙 ;
焦超群 ;
明磊 .
中国专利 :CN119199446A ,2024-12-27
[10]
一种半导体器件的UIS测试电路和UIS测试方法 [P]. 
赵旭 ;
毛赛君 ;
刘弘耀 .
中国专利 :CN117250469B ,2024-02-09