用于质子交换膜质子电导率的测量夹具

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310471671.1

申请日：

2013-10-10

公开(公告)号：

CN103728472A

公开(公告)日：

2014-04-16

发明(设计)人：

于非

申请人：

申请人地址：

510640 广东省广州市天河区五山路381号

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

代理机构：

广州市华学知识产权代理有限公司 44245

代理人：

蔡茂略

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-05-14	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101582221533 IPC(主分类):G01R 1/04 专利申请号:2013104716711 申请日:20131010
2014-04-16	公开	公开
2016-10-12	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101739803338 IPC(主分类):G01R 1/04 专利申请号:2013104716711 申请公布日:20140416

共 50 条

[1]

用于质子交换膜质子电导率的测量夹具 [P].

于非 .

中国专利 :CN203561649U ,2014-04-23

[2]

膜电极质子交换膜质子电导率测试方法 [P].

周超凡 ;

方川 ;

李飞强 ;

张国强 .

中国专利 :CN118225847A ,2024-06-21

[3]

一种高质子电导率质子交换膜 [P].

孟庆峰 .

中国专利 :CN220984569U ,2024-05-17

[4]

测试夹具及测试质子交换膜厚度方向质子电导率的方法 [P].

蒋晶晶 .

中国专利 :CN118090832B ,2024-08-13

[5]

测试夹具及测试质子交换膜厚度方向质子电导率的方法 [P].

蒋晶晶 .

中国专利 :CN118090832A ,2024-05-28

[6]

一种测试质子交换膜质子电导率的装置 [P].

尹崇山 ;

何春清 ;

刘其城 .

中国专利 :CN212622378U ,2021-02-26

[7]

一种测试质子交换膜质子电导率的装置和方法 [P].

尹崇山 ;

何春清 ;

刘其城 .

中国专利 :CN111595919A ,2020-08-28

[8]

测量质子交换膜膜厚方向电导率装置及方法 [P].

卢国玮 ;

邹业成 ;

张尊彪 ;

冯威 ;

张永明 .

中国专利 :CN110988480A ,2020-04-10

[9]

质子交换膜电导率表征装置 [P].

岳宝华 ;

张晓明 ;

严六明 ;

孙超 ;

张叶沛 ;

刘慧婷 ;

韩帅元 ;

苏俊铭 ;

谢丽青 .

中国专利 :CN103076367A ,2013-05-01

[10]

质子交换膜电导率测试系统 [P].

刘亚圣 ;

刘一晨 ;

毕臻 ;

刘昊 .

中国专利 :CN113267681A ,2021-08-17

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