测试夹具及测试质子交换膜厚度方向质子电导率的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410247645.9

申请日：

2024-03-05

公开(公告)号：

CN118090832A

公开(公告)日：

2024-05-28

发明(设计)人：

蒋晶晶

申请人：

康明斯氢能（上海）有限公司

申请人地址：

201306 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区临港新片区翠波路201、221号1幢5层501室

IPC主分类号：

G01N27/00

IPC分类号：

G01N27/04

代理机构：

北京市中伦律师事务所 11410

代理人：

杨黎峰

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-13	授权	授权
2024-05-28	公开	公开
2024-06-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 27/00申请日:20240305

共 50 条

[1]

测试夹具及测试质子交换膜厚度方向质子电导率的方法 [P].

蒋晶晶 .

中国专利 :CN118090832B ,2024-08-13

[2]

膜电极质子交换膜质子电导率测试方法 [P].

周超凡 ;

方川 ;

李飞强 ;

张国强 .

中国专利 :CN118225847A ,2024-06-21

[3]

用于质子交换膜质子电导率的测量夹具 [P].

于非 .

中国专利 :CN203561649U ,2014-04-23

[4]

用于质子交换膜质子电导率的测量夹具 [P].

于非 .

中国专利 :CN103728472A ,2014-04-16

[5]

质子交换膜电导率测试仓及测试方法 [P].

刘亚圣 ;

刘一晨 ;

毕臻 ;

刘昊 .

中国专利 :CN113267680A ,2021-08-17

[6]

一种测试质子交换膜质子电导率的装置 [P].

尹崇山 ;

何春清 ;

刘其城 .

中国专利 :CN212622378U ,2021-02-26

[7]

一种测试质子交换膜质子电导率的装置和方法 [P].

尹崇山 ;

何春清 ;

刘其城 .

中国专利 :CN111595919A ,2020-08-28

[8]

质子交换膜电导率测试系统 [P].

刘亚圣 ;

刘一晨 ;

毕臻 ;

刘昊 .

中国专利 :CN113267681A ,2021-08-17

[9]

一种高质子电导率质子交换膜 [P].

孟庆峰 .

中国专利 :CN220984569U ,2024-05-17

[10]

质子交换膜各向异性电导率测试装置 [P].

唐海 ;

姚斌 ;

贺萍 .

中国专利 :CN217156646U ,2022-08-09

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