X射线检查装置和辐射探测器

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200580013662.1

申请日：

2005-04-25

公开(公告)号：

CN100531325C

公开(公告)日：

2007-04-18

发明(设计)人：

D·沙弗 G·罗塞 J·韦格特 M·奥弗迪克 W·卢坦

申请人：

申请人地址：

荷兰艾恩德霍芬

IPC主分类号：

H04N532

IPC分类号：

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司

代理人：

李亚非;王忠忠

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-08-19	授权	授权
2007-04-18	公开	公开
2007-07-11	实质审查的生效	实质审查的生效
2011-06-29	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101083094625 IPC(主分类):H04N 5/32 专利号:ZL2005800136621 申请日:20050425 授权公告日:20090819 终止日期:20100425

共 50 条

[1]

X射线探测器 [P].

W·吕滕 ;

A·纳斯切蒂 ;

M·奥弗迪克 .

中国专利 :CN1890811A ,2007-01-03

[2]

X射线探测器 [P].

C·赫尔曼 .

中国专利 :CN103998952A ,2014-08-20

[3]

X射线探测器和具有X射线探测器的X射线设备 [P].

M·霍瑟曼 ;

T·厄格勒 ;

J·弗雷格 .

中国专利 :CN112198543A ,2021-01-08

[4]

X射线探测器和X射线成像装置 [P].

H·施泰因豪泽 ;

O·J·维默斯 ;

P·L·阿尔温 ;

M·西蒙 .

中国专利 :CN110168406A ,2019-08-23

[5]

辐射探测器和X射线成像系统 [P].

R·普罗克绍 .

中国专利 :CN108293096B ,2018-07-17

[6]

X射线探测器 [P].

金正道 ;

李建河 .

韩国专利 :CN119836587A ,2025-04-15

[7]

X射线探测器 [P].

王迅 .

中国专利 :CN207380260U ,2018-05-18

[8]

X射线探测器和X射线探测器制造方法 [P].

唐德铮 .

中国专利 :CN101253419B ,2008-08-27

[9]

X射线探测方法、和X射线探测器 [P].

邢宇翔 ;

郭潇月 ;

邓智 ;

沈乐 ;

张丽 ;

陈志强 ;

李亮 .

中国专利 :CN107345923A ,2017-11-14

[10]

用于生产x射线探测器的组装方法、x射线探测器和x射线设备 [P].

T·厄格勒 ;

M·拉巴延德英扎 ;

J·弗雷格 .

中国专利 :CN110058291A ,2019-07-26

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