一种电连接器加速贮存寿命试验方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710834010.9

申请日：

2017-09-15

公开(公告)号：

CN107727957B

公开(公告)日：

2018-02-23

发明(设计)人：

钱萍孟垣东陈文华杨帆陈磊磊叶杰辉颜佳辉夏宏运

申请人：

申请人地址：

310018 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街928号

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙) 33240

代理人：

黄前泽

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-03-20	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20170915
2019-10-11	授权	授权
2018-02-23	公开	公开

共 50 条

[1]

一种电真空器件加速贮存寿命试验方法 [P].

姚金勇 ;

方鑫 ;

李晓钢 ;

张坤 ;

罗瑞萌 .

中国专利 :CN102539136A ,2012-07-04

[2]

一种电连接器加速退化试验方案优化方法 [P].

钱萍 ;

陈磊磊 ;

陈文华 ;

钟立强 ;

孟垣东 ;

叶杰辉 ;

夏宏运 ;

颜佳辉 ;

张利彬 .

中国专利 :CN108132395B ,2018-06-08

[3]

多层瓷介电容器加速贮存寿命试验方法 [P].

彭磊 ;

刘泓 ;

熊盛阳 ;

杜红焱 ;

孙淑英 ;

官岩 ;

赵彦飞 ;

汪翔 ;

吴立强 ;

邬文浩 ;

张爱学 ;

高憬楠 ;

林德建 .

中国专利 :CN103576009B ,2014-02-12

[4]

电连接器失效率的加速验证试验方法 [P].

陈文华 ;

钱萍 ;

崔杰 ;

卢献彪 ;

周升俊 .

中国专利 :CN101017189A ,2007-08-15

[5]

一种新型CMOS器件长期贮存寿命评价试验方法 [P].

刘士全 ;

王健军 ;

严华鑫 ;

徐睿 .

中国专利 :CN105806877A ,2016-07-27

[6]

电子产品加速贮存寿命试验评估方法 [P].

邓广宁 ;

叶志坤 ;

胡秋实 ;

薛崇峰 .

中国专利 :CN116413528B ,2025-09-30

[7]

一种电连接器聚氨酯胶绝缘件加速退化试验方法 [P].

张国泰 ;

钱萍 ;

陈文华 ;

涂天颖 ;

施佳煜 ;

章建 .

中国专利 :CN117610256A ,2024-02-27

[8]

一种用于电连接器日历寿命模拟试验装置及试验方法 [P].

任万滨 ;

孟圆 ;

张旭 ;

刘凯政 .

中国专利 :CN108710042A ,2018-10-26

[9]

一种电子产品加速贮存寿命试验评估系统 [P].

邓广宁 ;

刘利杰 ;

荣双龙 ;

王旭平 .

中国专利 :CN116413527B ,2025-10-03

[10]

一种加速寿命试验方法 [P].

金丽伟 .

中国专利 :CN117892473A ,2024-04-16

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