一种电子产品加速贮存寿命试验评估系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210108667.8

申请日：

2022-01-28

公开(公告)号：

CN116413527B

公开(公告)日：

2025-10-03

发明(设计)人：

邓广宁刘利杰荣双龙王旭平

申请人：

北京华航无线电测量研究所

申请人地址：

100013 北京市东城区和平里南街3号

IPC主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

代理机构：

北京天达知识产权代理事务所有限公司 11386

代理人：

刘镜

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-03	授权	授权

共 50 条

[1]

电子产品加速贮存寿命试验评估方法 [P].

邓广宁 ;

叶志坤 ;

胡秋实 ;

薛崇峰 .

中国专利 :CN116413528B ,2025-09-30

[2]

一种电工电子产品高加速寿命试验工装 [P].

陆继田 ;

陈栋春 ;

李震 ;

汪飞 ;

毕发祥 .

中国专利 :CN216349467U ,2022-04-19

[3]

用于电子产品的高加速寿命试验系统及其方法 [P].

朱雁程 .

中国专利 :CN102954865A ,2013-03-06

[4]

一种机电整机产品贮存寿命试验加速因子评估方法 [P].

张生鹏 ;

李宏民 .

中国专利 :CN105913166B ,2016-08-31

[5]

一种星上电子产品加速寿命试验时间计算方法 [P].

韩慧超 ;

栾家辉 ;

石士进 ;

朱兴高 ;

米海波 ;

代永德 .

中国专利 :CN110196779A ,2019-09-03

[6]

一种电真空器件加速贮存寿命试验方法 [P].

姚金勇 ;

方鑫 ;

李晓钢 ;

张坤 ;

罗瑞萌 .

中国专利 :CN102539136A ,2012-07-04

[7]

一种电连接器加速贮存寿命试验方法 [P].

钱萍 ;

孟垣东 ;

陈文华 ;

杨帆 ;

陈磊磊 ;

叶杰辉 ;

颜佳辉 ;

夏宏运 .

中国专利 :CN107727957B ,2018-02-23

[8]

一种电子产品加电寿命试验验证方法 [P].

蔡健平 ;

向刚 ;

徐洪武 ;

伍招冲 ;

张晓军 ;

刘艳荣 ;

李觐柱 .

中国专利 :CN117371170A ,2024-01-09

[9]

一种电子产品寿命测算方法 [P].

袁莹莹 ;

张旭辉 ;

彭再武 ;

王征宇 ;

唐广笛 ;

王海斌 ;

杜绍华 ;

夏一帆 ;

王宇 ;

沈泽华 .

中国专利 :CN109388829A ,2019-02-26

[10]

基于逆高斯寿命分布的贮存寿命试验加速因子评估方法 [P].

张生鹏 ;

李宏民 ;

张文伟 .

中国专利 :CN105868543A ,2016-08-17

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