一种星上电子产品加速寿命试验时间计算方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910450019.9

申请日：

2019-05-28

公开(公告)号：

CN110196779A

公开(公告)日：

2019-09-03

发明(设计)人：

韩慧超栾家辉石士进朱兴高米海波代永德

申请人：

申请人地址：

100071 北京市丰台区小屯路89号

IPC主分类号：

G06F1100

IPC分类号：

G06F1750

代理机构：

北京理工大学专利中心 11120

代理人：

刘芳;郭德忠

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-09-27	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/00 申请日:20190528
2019-09-03	公开	公开

共 50 条

[1]

电子产品加速贮存寿命试验评估方法 [P].

邓广宁 ;

叶志坤 ;

胡秋实 ;

薛崇峰 .

中国专利 :CN116413528B ,2025-09-30

[2]

一种多维应力耦合的星上电子产品加速寿命试验方法 [P].

朱兴高 ;

栾家辉 ;

代永德 ;

石士进 ;

韩慧超 ;

米海波 ;

陈皓 .

中国专利 :CN110426168B ,2019-11-08

[3]

一种电工电子产品高加速寿命试验工装 [P].

陆继田 ;

陈栋春 ;

李震 ;

汪飞 ;

毕发祥 .

中国专利 :CN216349467U ,2022-04-19

[4]

高加速寿命试验的加速因子计算方法 [P].

曾义翔 ;

汤可州 .

中国专利 :CN119848390A ,2025-04-18

[5]

基于故障行为的电子产品加速寿命试验方法 [P].

陈颖 ;

王羽佳 ;

康锐 .

中国专利 :CN110907725A ,2020-03-24

[6]

用于电子产品的高加速寿命试验系统及其方法 [P].

朱雁程 .

中国专利 :CN102954865A ,2013-03-06

[7]

一种列车用产品的加速寿命试验计算方法 [P].

杨静 ;

明志茂 ;

赵可沦 ;

彭勇 ;

江雪晨 .

中国专利 :CN114329778A ,2022-04-12

[8]

一种电子产品加速贮存寿命试验评估系统 [P].

邓广宁 ;

刘利杰 ;

荣双龙 ;

王旭平 .

中国专利 :CN116413527B ,2025-10-03

[9]

基于“寿命－应力”模型的电子产品加速寿命试验方法 [P].

胡薇薇 ;

祁邦彦 ;

孙宇锋 ;

赵广燕 ;

丁潇雪 ;

郑鹏洲 .

中国专利 :CN102252898A ,2011-11-23

[10]

一种电子产品加电寿命试验验证方法 [P].

蔡健平 ;

向刚 ;

徐洪武 ;

伍招冲 ;

张晓军 ;

刘艳荣 ;

李觐柱 .

中国专利 :CN117371170A ,2024-01-09

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