用于电子产品的高加速寿命试验系统及其方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110249510.9

申请日：

2011-08-26

公开(公告)号：

CN102954865A

公开(公告)日：

2013-03-06

发明(设计)人：

朱雁程

申请人：

申请人地址：

200233 上海市徐汇区田州路99号13幢501室

IPC主分类号：

G01M704

IPC分类号：

G01M706 G01M9900

代理机构：

上海智信专利代理有限公司 31002

代理人：

薛琦;杨东明

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-04-03	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101430523528 IPC(主分类):G01M 7/04 专利申请号:2011102495109 申请日:20110826
2015-12-16	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101725093092 IPC(主分类):G01M 7/04 专利申请号:2011102495109 申请公布日:20130306
2013-03-06	公开	公开

共 50 条

[1]

一种电工电子产品高加速寿命试验工装 [P].

陆继田 ;

陈栋春 ;

李震 ;

汪飞 ;

毕发祥 .

中国专利 :CN216349467U ,2022-04-19

[2]

一种基于温湿度的电子产品高加速寿命试验评价方法 [P].

江徽 ;

万永康 ;

虞勇坚 ;

何静 ;

宋国栋 .

中国专利 :CN115407152A ,2022-11-29

[3]

电子产品加速贮存寿命试验评估方法 [P].

邓广宁 ;

叶志坤 ;

胡秋实 ;

薛崇峰 .

中国专利 :CN116413528B ,2025-09-30

[4]

航空机载产品高加速寿命试验系统及方法 [P].

邵聪 ;

陆深波 .

中国专利 :CN114577421A ,2022-06-03

[5]

基于“寿命－应力”模型的电子产品加速寿命试验方法 [P].

胡薇薇 ;

祁邦彦 ;

孙宇锋 ;

赵广燕 ;

丁潇雪 ;

郑鹏洲 .

中国专利 :CN102252898A ,2011-11-23

[6]

基于故障行为的电子产品加速寿命试验方法 [P].

陈颖 ;

王羽佳 ;

康锐 .

中国专利 :CN110907725A ,2020-03-24

[7]

一种电子产品加速贮存寿命试验评估系统 [P].

邓广宁 ;

刘利杰 ;

荣双龙 ;

王旭平 .

中国专利 :CN116413527B ,2025-10-03

[8]

一种星上电子产品加速寿命试验时间计算方法 [P].

韩慧超 ;

栾家辉 ;

石士进 ;

朱兴高 ;

米海波 ;

代永德 .

中国专利 :CN110196779A ,2019-09-03

[9]

高加速寿命试验装置以及高加速寿命试验方法 [P].

佐藤晶 ;

汤本绅一 ;

内田胜广 .

日本专利 :CN118226152A ,2024-06-21

[10]

用于电子产品的供电系统及电子产品 [P].

蔡炳华 ;

吴妙 ;

黄焕根 ;

龙红辉 .

中国专利 :CN105048592A ,2015-11-11

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