用于电子产品的高加速寿命试验系统及其方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110249510.9

申请日：

2011-08-26

公开(公告)号：

CN102954865A

公开(公告)日：

2013-03-06

发明(设计)人：

朱雁程

申请人：

申请人地址：

200233 上海市徐汇区田州路99号13幢501室

IPC主分类号：

G01M704

IPC分类号：

G01M706 G01M9900

代理机构：

上海智信专利代理有限公司 31002

代理人：

薛琦;杨东明

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-04-03	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101430523528 IPC(主分类):G01M 7/04 专利申请号:2011102495109 申请日:20110826
2015-12-16	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101725093092 IPC(主分类):G01M 7/04 专利申请号:2011102495109 申请公布日:20130306
2013-03-06	公开	公开

共 50 条

[11]

用于电子产品的按键及电子产品 [P].

毕永琴 .

中国专利 :CN201601058U ,2010-10-06

[12]

高加速寿命试验的加速因子计算方法 [P].

曾义翔 ;

汤可州 .

中国专利 :CN119848390A ,2025-04-18

[13]

电子产品的外壳及电子产品 [P].

张健 ;

许建风 ;

黄寿锋 .

中国专利 :CN221553652U ,2024-08-16

[14]

一种装备用电子产品多应力步降加速寿命试验方法 [P].

陈娟 ;

王豪 ;

李万国 ;

刘浩 ;

吴昶霖 ;

隗靖昆 ;

刘江楠 ;

禹春梅 ;

向刚 ;

屈辰 ;

彭宇 ;

白骏 .

中国专利 :CN117807828A ,2024-04-02

[15]

一种多维应力耦合的星上电子产品加速寿命试验方法 [P].

朱兴高 ;

栾家辉 ;

代永德 ;

石士进 ;

韩慧超 ;

米海波 ;

陈皓 .

中国专利 :CN110426168B ,2019-11-08

[16]

用于高加速寿命试验和应力筛选试验的试验箱 [P].

陈锦荣 ;

王春晖 ;

徐从品 ;

李伟鑫 ;

孙世伟 .

中国专利 :CN204924779U ,2015-12-30

[17]

一种用于高加速寿命试验的试验装置 [P].

钱业文 .

中国专利 :CN205192514U ,2016-04-27

[18]

用于电子产品的弹片 [P].

闫然 .

中国专利 :CN202474244U ,2012-10-03

[19]

一种电子产品加电寿命试验验证方法 [P].

蔡健平 ;

向刚 ;

徐洪武 ;

伍招冲 ;

张晓军 ;

刘艳荣 ;

李觐柱 .

中国专利 :CN117371170A ,2024-01-09

[20]

一种电子产品的散热结构及电子产品 [P].

林凯 .

中国专利 :CN206559795U ,2017-10-13

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