用于电子产品的高加速寿命试验系统及其方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201110249510.9
申请日
2011-08-26
公开(公告)号
CN102954865A
公开(公告)日
2013-03-06
发明(设计)人
朱雁程
申请人
申请人地址
200233 上海市徐汇区田州路99号13幢501室
IPC主分类号
G01M704
IPC分类号
G01M706 G01M9900
代理机构
上海智信专利代理有限公司 31002
代理人
薛琦;杨东明
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[21]
通讯电子产品测试系统与通讯电子产品测试方法 [P]. 
牛佛林 ;
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[22]
一种用于高加速寿命试验的多功能板架 [P]. 
郭玲 ;
高旭东 ;
唐利军 ;
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郑明辉 .
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[23]
一种电子产品寿命测算方法 [P]. 
袁莹莹 ;
张旭辉 ;
彭再武 ;
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[24]
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逯召明 ;
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[25]
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[26]
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[27]
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[28]
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[29]
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[30]
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