用于电子产品的高加速寿命试验系统及其方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201110249510.9
申请日
2011-08-26
公开(公告)号
CN102954865A
公开(公告)日
2013-03-06
发明(设计)人
朱雁程
申请人
申请人地址
200233 上海市徐汇区田州路99号13幢501室
IPC主分类号
G01M704
IPC分类号
G01M706 G01M9900
代理机构
上海智信专利代理有限公司 31002
代理人
薛琦;杨东明
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[41]
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