一种集成电路检测平台及其检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202111517543.7
申请日
2021-12-13
公开(公告)号
CN114113986A
公开(公告)日
2022-03-01
发明(设计)人
孔至颢
申请人
申请人地址
223800 江苏省宿迁市宿豫区何塘小区58号
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种集成电路检测平台 [P]. 
吴龙军 .
中国专利 :CN206710553U ,2017-12-05
[2]
一种用于集成电路的电路检测方法 [P]. 
龙薇丽 .
中国专利 :CN115372793A ,2022-11-22
[3]
集成电路检测方法 [P]. 
张胜禹 .
中国专利 :CN117572216A ,2024-02-20
[4]
一种集成电路检测装置 [P]. 
杨光 .
中国专利 :CN214201529U ,2021-09-14
[5]
一种集成电路检测装置 [P]. 
宁晓川 .
中国专利 :CN218122177U ,2022-12-23
[6]
微集成电路检测系统及其检测方法 [P]. 
郭雅佩 ;
陈俊霖 .
中国专利 :CN118671563A ,2024-09-20
[7]
集成电路检测设备 [P]. 
黄世轩 .
中国专利 :CN223332886U ,2025-09-12
[8]
一种集成电路检测与视觉检测一体装置 [P]. 
覃杰莉 .
中国专利 :CN221667959U ,2024-09-06
[9]
一种集成电路检测设备 [P]. 
赵坤鹏 ;
杨征 .
中国专利 :CN215415529U ,2022-01-04
[10]
一种集成电路检测夹具 [P]. 
吴喆 ;
滕丽丽 ;
王国庆 .
中国专利 :CN220568831U ,2024-03-08