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一种集成电路检测平台及其检测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202111517543.7
申请日
:
2021-12-13
公开(公告)号
:
CN114113986A
公开(公告)日
:
2022-03-01
发明(设计)人
:
孔至颢
申请人
:
申请人地址
:
223800 江苏省宿迁市宿豫区何塘小区58号
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-03-01
公开
公开
2022-03-18
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20211213
2022-08-19
发明专利申请公布后的撤回
发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):G01R 31/28 申请公布日:20220301
共 50 条
[1]
一种集成电路检测平台
[P].
吴龙军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴龙军
.
中国专利
:CN206710553U
,2017-12-05
[2]
一种用于集成电路的电路检测方法
[P].
龙薇丽
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
龙薇丽
.
中国专利
:CN115372793A
,2022-11-22
[3]
集成电路检测方法
[P].
张胜禹
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
日月新检测科技(苏州)有限公司
日月新检测科技(苏州)有限公司
张胜禹
.
中国专利
:CN117572216A
,2024-02-20
[4]
一种集成电路检测装置
[P].
杨光
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨光
.
中国专利
:CN214201529U
,2021-09-14
[5]
一种集成电路检测装置
[P].
宁晓川
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
宁晓川
.
中国专利
:CN218122177U
,2022-12-23
[6]
微集成电路检测系统及其检测方法
[P].
郭雅佩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
友达光电股份有限公司
友达光电股份有限公司
郭雅佩
;
陈俊霖
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
友达光电股份有限公司
友达光电股份有限公司
陈俊霖
.
中国专利
:CN118671563A
,2024-09-20
[7]
集成电路检测设备
[P].
黄世轩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
昆山铭世特智能科技有限公司
昆山铭世特智能科技有限公司
黄世轩
.
中国专利
:CN223332886U
,2025-09-12
[8]
一种集成电路检测与视觉检测一体装置
[P].
覃杰莉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
厦门工学院
厦门工学院
覃杰莉
.
中国专利
:CN221667959U
,2024-09-06
[9]
一种集成电路检测设备
[P].
赵坤鹏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
赵坤鹏
;
杨征
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨征
.
中国专利
:CN215415529U
,2022-01-04
[10]
一种集成电路检测夹具
[P].
吴喆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海芯诣电子科技有限公司
上海芯诣电子科技有限公司
吴喆
;
滕丽丽
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海芯诣电子科技有限公司
上海芯诣电子科技有限公司
滕丽丽
;
王国庆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海芯诣电子科技有限公司
上海芯诣电子科技有限公司
王国庆
.
中国专利
:CN220568831U
,2024-03-08
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