一种用于集成电路的电路检测方法

被引：0

申请号：

CN202210947188.5

申请日：

2022-08-09

公开(公告)号：

CN115372793A

公开(公告)日：

2022-11-22

发明(设计)人：

龙薇丽

申请人：

申请人地址：

244000 安徽省铜陵市郊区铜陵大桥经济开发区大通工贸园内

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01N2188 G06T700

代理机构：

合肥正则元起专利代理事务所(普通合伙) 34160

代理人：

刘念

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-12-09	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20220809
2022-11-22	公开	公开

共 50 条

[1]

集成电路检测方法 [P].

张胜禹 .

中国专利 :CN117572216A ,2024-02-20

[2]

一种集成电路检测平台及其检测方法 [P].

孔至颢 .

中国专利 :CN114113986A ,2022-03-01

[3]

一种集成电路检测装置 [P].

李聪芳 ;

张培磊 ;

王小莉 .

中国专利 :CN218213300U ,2023-01-03

[4]

一种集成电路检测装置 [P].

宁晓川 .

中国专利 :CN218122177U ,2022-12-23

[5]

一种集成电路检测机 [P].

白湖正 ;

孙承民 .

中国专利 :CN210323275U ,2020-04-14

[6]

一种集成电路检测装置 [P].

吴晓彬 .

中国专利 :CN222212883U ,2024-12-20

[7]

一种集成电路检测平台 [P].

吴龙军 .

中国专利 :CN206710553U ,2017-12-05

[8]

一种用于集成电路检测的相机机构 [P].

孙刚 ;

郑金国 ;

朱方园 ;

贺道坤 .

中国专利 :CN217059986U ,2022-07-26

[9]

一种集成电路检测方法、装置及系统 [P].

邓建平 ;

曾诚 ;

朱青松 .

中国专利 :CN104635141B ,2015-05-20

[10]

一种集成电路开路检测电路 [P].

姜军 .

中国专利 :CN220340377U ,2024-01-12

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