开尔文测试钳

被引：0

专利类型：

外观设计

申请号：

CN201430123230.8

申请日：

2014-05-08

公开(公告)号：

CN303101134S

公开(公告)日：

2015-02-11

发明(设计)人：

王永辉

申请人：

申请人地址：

071000 河北省保定市高开区火炬产业园2号楼

IPC主分类号：

1005

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-02-11	授权	授权

共 50 条

[1]

一种开尔文测试钳 [P].

王永辉 .

中国专利 :CN203909141U ,2014-10-29

[2]

开尔文测试夹 [P].

文明明 .

中国专利 :CN307818045S ,2023-01-31

[3]

开尔文测试载片台 [P].

戴胜强 ;

李子科 ;

张新玲 ;

田凯 .

中国专利 :CN102565468B ,2012-07-11

[4]

开尔文测试夹（BC5530172双色） [P].

胡国柳 .

中国专利 :CN307738650S ,2022-12-20

[5]

半导体开尔文测试探针 [P].

金英杰 .

中国专利 :CN102466740A ,2012-05-23

[6]

超大电流开尔文测试探针 [P].

殷岚勇 ;

刘凯 .

中国专利 :CN112083205A ,2020-12-15

[7]

开尔文结构的电阻测试方法 [P].

武浩 ;

韩斌 ;

李旭东 ;

杨启毅 .

中国专利 :CN111025016A ,2020-04-17

[8]

一种开尔文测试夹 [P].

文明明 .

中国专利 :CN218036978U ,2022-12-13

[9]

一种芯片开尔文测试座 [P].

王国华 ;

李泽林 .

中国专利 :CN217034020U ,2022-07-22

[10]

一种开尔文测试用插座 [P].

郭忠山 .

中国专利 :CN211148731U ,2020-07-31

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