质量分析方法及质量分析系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200780101761.4

申请日：

2007-12-13

公开(公告)号：

CN101883983B

公开(公告)日：

2010-11-10

发明(设计)人：

西口克梶原茂树

申请人：

申请人地址：

日本京都府

IPC主分类号：

G01N2762

IPC分类号：

H01J4940

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

李贵亮

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2010-11-10	公开	公开
2013-07-10	授权	授权
2018-02-02	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 27/62 申请日:20071213 授权公告日:20130710 终止日期:20161213
2010-12-22	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101026285660 IPC(主分类):G01N 27/62 专利申请号:2007801017614 申请日:20071213

共 50 条

[1]

质量分析方法以及质量分析系统 [P].

马场纪子 ;

吉冈信二 ;

安田博幸 .

中国专利 :CN104508474A ,2015-04-08

[2]

质量分析装置及质量分析方法 [P].

桥本雄一郎 .

中国专利 :CN112514028A ,2021-03-16

[3]

质量分析装置及质量分析方法 [P].

田川雄介 ;

石川勇树 .

中国专利 :CN113711332A ,2021-11-26

[4]

质量分析装置及质量分析方法 [P].

安田博幸 ;

吉冈信二 .

中国专利 :CN103222031A ,2013-07-24

[5]

质量分析方法及质量分析装置 [P].

高桥和也 .

日本专利 :CN118043937A ,2024-05-14

[6]

质量分析方法及质量分析装置 [P].

高桥秀典 ;

浅川大树 .

日本专利 :CN119072628A ,2024-12-03

[7]

质量分析装置及质量分析方法 [P].

熊野峻 ;

杉山益之 ;

桥本雄一郎 ;

长谷川英树 ;

山田益义 ;

西村和茂 ;

诸熊秀俊 .

中国专利 :CN102956433A ,2013-03-06

[8]

质量分析装置及质量分析方法 [P].

田川雄介 ;

石川勇树 .

日本专利 :CN113711332B ,2024-03-08

[9]

质量分析方法及质量分析装置 [P].

芦田刚士 .

日本专利 :CN120604117A ,2025-09-05

[10]

质量分析方法及质量分析装置 [P].

内山皓介 .

日本专利 :CN121195163A ,2025-12-23

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