质量分析装置及质量分析方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210273399.1

申请日：

2012-08-02

公开(公告)号：

CN102956433A

公开(公告)日：

2013-03-06

发明(设计)人：

熊野峻杉山益之桥本雄一郎长谷川英树山田益义西村和茂诸熊秀俊

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

H01J4924

IPC分类号：

H01J4926 G01N2768

代理机构：

北京银龙知识产权代理有限公司 11243

代理人：

曾贤伟;曹鑫

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-01-27	授权	授权
2013-03-06	公开	公开
2013-04-03	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101430522045 IPC(主分类):H01J 49/24 专利申请号:2012102733991 申请日:20120802

共 50 条

[1]

质量分析装置及质量分析方法 [P].

桥本雄一郎 .

中国专利 :CN112514028A ,2021-03-16

[2]

质量分析装置及质量分析方法 [P].

田川雄介 ;

石川勇树 .

中国专利 :CN113711332A ,2021-11-26

[3]

质量分析装置及质量分析方法 [P].

安田博幸 ;

吉冈信二 .

中国专利 :CN103222031A ,2013-07-24

[4]

质量分析方法及质量分析装置 [P].

高桥和也 .

日本专利 :CN118043937A ,2024-05-14

[5]

质量分析方法及质量分析装置 [P].

高桥秀典 ;

浅川大树 .

日本专利 :CN119072628A ,2024-12-03

[6]

质量分析装置及质量分析方法 [P].

田川雄介 ;

石川勇树 .

日本专利 :CN113711332B ,2024-03-08

[7]

质量分析方法及质量分析装置 [P].

芦田刚士 .

日本专利 :CN120604117A ,2025-09-05

[8]

质量分析方法及质量分析装置 [P].

内山皓介 .

日本专利 :CN121195163A ,2025-12-23

[9]

质量分析装置及质量分析方法 [P].

西村和茂 ;

桥本雄一郎 ;

杉山益之 ;

山田益义 ;

诸熊秀俊 .

中国专利 :CN103177928B ,2013-06-26

[10]

质量分析装置以及质量分析方法 [P].

师子鹿司 ;

诸熊秀俊 ;

山田益义 ;

井上博之 .

中国专利 :CN104246489A ,2014-12-24

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