用于光学地测量产品表面的方法和设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201080002245.8

申请日：

2010-03-02

公开(公告)号：

CN102282440A

公开(公告)日：

2011-12-14

发明(设计)人：

R·F·维泽

申请人：

申请人地址：

捷克霍沃科维斯市

IPC主分类号：

G01B1106

IPC分类号：

G01B1125

代理机构：

北京润平知识产权代理有限公司 11283

代理人：

南毅宁;周建秋

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-02-01	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101177113559 IPC(主分类):G01B 11/06 专利申请号:2010800022458 申请日:20100302
2014-08-20	授权	授权
2011-12-14	公开	公开

共 50 条

[1]

用于光学测量物体的形状和表面的设备 [P].

克里斯托夫·瓦格纳 .

中国专利 :CN101147042B ,2008-03-19

[2]

用于光学地扫描和测量环境的方法 [P].

马丁·奥西格 ;

伊万·博吉切维奇 ;

诺贝特·比金 .

中国专利 :CN102232176A ,2011-11-02

[3]

表面形状测量设备和方法 [P].

A·M·斯科特 ;

A·C·卢恩 .

中国专利 :CN100468000C ,2007-04-04

[4]

评价反射表面的结构差异的方法和测量设备 [P].

M·内滕 .

中国专利 :CN104568966A ,2015-04-29

[5]

用于光学测量物件的方法和测量系统 [P].

A.阿达姆森 ;

F.蒂伊 ;

U.维勒斯 .

中国专利 :CN107427231B ,2017-12-01

[6]

用于表面的涂层厚度检查和表面的涂层缺陷的方法和装置 [P].

A·阿夫拉西比 ;

G·伯内特 ;

C·乔克卡林根 ;

W·D·凯尔西 ;

J·P·麦克亨利 ;

R·彭 .

中国专利 :CN112561851A ,2021-03-26

[7]

用于表面的涂层厚度检查和表面的涂层缺陷的方法和装置 [P].

A·阿夫拉西比 ;

G·伯内特 ;

C·乔克卡林根 ;

W·D·凯尔西 ;

J·P·麦克亨利 ;

R·彭 .

美国专利 :CN112561851B ,2025-10-10

[8]

用于评价轮胎表面的设备 [P].

A·若利 ;

J-P·扎内拉 .

中国专利 :CN101896865A ,2010-11-24

[9]

用于检测表面的方法 [P].

C·普罗布斯特 ;

A·施瓦茨 .

中国专利 :CN1998021A ,2007-07-11

[10]

用于利用光学波长滤波来检查表面的系统和方法 [P].

J·A·安格尔二世 ;

S·C·奥雷尔 ;

C·M·维勒 ;

C·W·阿隆 .

中国专利 :CN102460064A ,2012-05-16

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