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用于光学测量物体的形状和表面的设备

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN200680009574.9
申请日：
2006-03-23
公开(公告)号：
CN101147042B
公开(公告)日：
2008-03-19
发明(设计)人：
克里斯托夫·瓦格纳
申请人：
申请人地址：
德国伊斯普林根
IPC主分类号：
G01B1124
IPC分类号：
G01N2188
代理机构：
北京市磐华律师事务所 11336
代理人：
董巍;顾珊
法律状态：
专利申请权、专利权的转移
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-12-30 专利申请权、专利权的转移 专利权的转移 IPC(主分类):G01B 11/24 登记生效日:20221220 变更事项:专利权人 变更前权利人:OBE-工厂翁玛赫特与鲍姆盖特纳公司 变更后权利人:萨科希瑞斯先进控制有限公司 变更事项:地址 变更前权利人:德国伊斯普林根 变更后权利人:德国卡尔斯鲁厄
2010-12-29 授权 授权
2008-03-19 公开 公开
2008-05-14 实质审查的生效 实质审查的生效
共 50 条
[1]
用于光学地测量产品表面的方法和设备 [P]. 
R·F·维泽 .
中国专利 :CN102282440A ,2011-12-14
[2]
对表面的位置进行远程光学测量的方法和设备 [P]. 
大卫·M·科恩克 ;
马克·道格拉斯·富勒 ;
杰瑞·A·詹姆斯 ;
蒂莫西·P·黄 .
中国专利 :CN111435071A ,2020-07-21
[3]
对表面的位置进行远程光学测量的方法和设备 [P]. 
大卫·M·科恩克 ;
马克·道格拉斯·富勒 ;
杰瑞·A·詹姆斯 ;
蒂莫西·P·黄 .
美国专利 :CN118258302A ,2024-06-28
[4]
对表面的位置进行远程光学测量的方法和设备 [P]. 
大卫·M·科恩克 ;
马克·道格拉斯·富勒 ;
杰瑞·A·詹姆斯 ;
蒂莫西·P·黄 .
美国专利 :CN111435071B ,2024-03-08
[5]
用于感测反光物体的表面形状的方法和系统 [P]. 
保罗·A·比尔兹利 .
中国专利 :CN101118155A ,2008-02-06
[6]
光学测量设备、折射计和用于光学测量的布置 [P]. 
J·耶斯凯莱伊宁 ;
H·萨罗 ;
V·吕拉 ;
T·劳塔迈基 .
中国专利 :CN109900637A ,2019-06-18
[7]
测量物体二维或三维形状的光学仪器 [P]. 
林双根 ;
金起弘 ;
曹相铉 ;
崔二培 ;
李相允 .
中国专利 :CN100510613C ,2005-05-11
[8]
用于光学测量设备的偏转镜组件和相应的光学测量设备 [P]. 
H.贝哈 ;
P.霍瓦思 ;
T.舒勒 .
中国专利 :CN103154766A ,2013-06-12
[9]
用于光学测量至反射的目标物体的距离的设备 [P]. 
T·戈戈拉 ;
A·温特 .
中国专利 :CN107636483A ,2018-01-26
[10]
用于光学测量物件的方法和测量系统 [P]. 
A.阿达姆森 ;
F.蒂伊 ;
U.维勒斯 .
中国专利 :CN107427231B ,2017-12-01
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