对表面的位置进行远程光学测量的方法和设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010012222.0

申请日：

2020-01-06

公开(公告)号：

CN111435071A

公开(公告)日：

2020-07-21

发明(设计)人：

大卫·M·科恩克马克·道格拉斯·富勒杰瑞·A·詹姆斯蒂莫西·P·黄

申请人：

申请人地址：

美国伊利诺斯州

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

G01B1124

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司 11240

代理人：

王红艳

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-01-28	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/00 申请日:20200106
2020-07-21	公开	公开

共 50 条

[1]

对表面的位置进行远程光学测量的方法和设备 [P].

大卫·M·科恩克 ;

马克·道格拉斯·富勒 ;

杰瑞·A·詹姆斯 ;

蒂莫西·P·黄 .

美国专利 :CN118258302A ,2024-06-28

[2]

对表面的位置进行远程光学测量的方法和设备 [P].

大卫·M·科恩克 ;

马克·道格拉斯·富勒 ;

杰瑞·A·詹姆斯 ;

蒂莫西·P·黄 .

美国专利 :CN111435071B ,2024-03-08

[3]

用于远程光学地测量表面的位置的方法和装置 [P].

大卫·M·科恩克 ;

马克·道格拉斯·富勒 ;

杰瑞·A·詹姆斯 ;

蒂莫西·P·黄 .

美国专利 :CN111435082B ,2024-05-03

[4]

用于远程光学地测量表面的位置的方法和装置 [P].

大卫·M·科恩克 ;

马克·道格拉斯·富勒 ;

杰瑞·A·詹姆斯 ;

蒂莫西·P·黄 .

中国专利 :CN111435082A ,2020-07-21

[5]

用于对表面进行导航的方法和装置 [P].

曾来福 ;

斯里尼瓦桑·拉克什曼阿曼 .

中国专利 :CN101206541B ,2008-06-25

[6]

用于光学测量物体的形状和表面的设备 [P].

克里斯托夫·瓦格纳 .

中国专利 :CN101147042B ,2008-03-19

[7]

光学测量线卷的卷表面的方法 [P].

杰拉尔德·伯杰 ;

乔治·奥拉彼 .

中国专利 :CN1121997A ,1996-05-08

[8]

用于进行光学厚度测量的方法和设备 [P].

S·韦斯 ;

P·尼姆奇 ;

T·贝克 ;

C·迪茨 .

德国专利 :CN117980691A ,2024-05-03

[9]

用于评估对表面的打点的方法 [P].

Y·兹马耶夫 ;

F·拉卡 ;

I·米尔拜尔 .

中国专利 :CN115136190A ,2022-09-30

[10]

借助于共焦传感器进行光学的表面测量的方法和设备 [P].

J·弗兰克 ;

G·雅各布 .

中国专利 :CN111065884A ,2020-04-24

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