用于远程光学地测量表面的位置的方法和装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010004592.X

申请日：

2020-01-03

公开(公告)号：

CN111435082B

公开(公告)日：

2024-05-03

发明(设计)人：

大卫·M·科恩克马克·道格拉斯·富勒杰瑞·A·詹姆斯蒂莫西·P·黄

申请人：

波音公司

申请人地址：

美国伊利诺斯州

IPC主分类号：

G01C15/00

IPC分类号：

G01M1/12

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司 11240

代理人：

刘瑞贤

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-03	授权	授权

共 50 条

[1]

用于远程光学地测量表面的位置的方法和装置 [P].

大卫·M·科恩克 ;

马克·道格拉斯·富勒 ;

杰瑞·A·詹姆斯 ;

蒂莫西·P·黄 .

中国专利 :CN111435082A ,2020-07-21

[2]

对表面的位置进行远程光学测量的方法和设备 [P].

大卫·M·科恩克 ;

马克·道格拉斯·富勒 ;

杰瑞·A·詹姆斯 ;

蒂莫西·P·黄 .

美国专利 :CN111435071B ,2024-03-08

[3]

对表面的位置进行远程光学测量的方法和设备 [P].

大卫·M·科恩克 ;

马克·道格拉斯·富勒 ;

杰瑞·A·詹姆斯 ;

蒂莫西·P·黄 .

中国专利 :CN111435071A ,2020-07-21

[4]

对表面的位置进行远程光学测量的方法和设备 [P].

大卫·M·科恩克 ;

马克·道格拉斯·富勒 ;

杰瑞·A·詹姆斯 ;

蒂莫西·P·黄 .

美国专利 :CN118258302A ,2024-06-28

[5]

用于测量表面轮廓的装置和方法 [P].

贾斯廷·W·威廉 .

中国专利 :CN1898525A ,2007-01-17

[6]

用于测量表面形状轮廓的方法和装置 [P].

X·陈 ;

A·刘 ;

周乃越 .

中国专利 :CN101932903A ,2010-12-29

[7]

测量表面轮廓的方法和装置 [P].

M·雷特迈耶 ;

H-J·克德焦拉 .

中国专利 :CN102483317A ,2012-05-30

[8]

用于测量表面的三维结构的方法和设备 [P].

埃文·J·瑞博尼克 ;

乔轶 ;

杰克·W·莱 ;

大卫·L·霍费尔特 .

中国专利 :CN104254768A ,2014-12-31

[9]

用于光学地内部测量管道的方法和装置 [P].

M.克劳豪森 ;

R.诺伊格鲍尔 ;

M.科尔贝 ;

M.托皮特 ;

N.佩施 ;

A.舒尔策 ;

J.福赫森 ;

H.奥伯韦兰 .

中国专利 :CN104520028B ,2015-04-15

[10]

表面的测量装置和方法 [P].

T·施塔梅斯特 ;

B·梅塞施米特 ;

K·维斯培特纳 .

中国专利 :CN101238348A ,2008-08-06

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