一种电子元器件检测装置

被引：0

申请号：

CN202220557820.0

申请日：

2022-03-15

公开(公告)号：

CN217112448U

公开(公告)日：

2022-08-02

发明(设计)人：

张国勋焦文慧

申请人：

申请人地址：

054000 河北省邢台市桥西区北小汪村小学街13号二层

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

代理机构：

石家庄知住优创知识产权代理事务所(普通合伙) 13131

代理人：

王丽巧

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-02	授权	授权

共 50 条

[1]

一种电子元器件质量检测装置 [P].

陈松林 ;

余瑞雄 .

中国专利 :CN218272528U ,2023-01-10

[2]

一种方便固定的电子元器件检测装置 [P].

袁露露 .

中国专利 :CN221405775U ,2024-07-23

[3]

一种电子元器件硬度检测装置 [P].

黄绍平 .

中国专利 :CN211978583U ,2020-11-20

[4]

电子元器件插脚检测装置 [P].

徐文强 .

中国专利 :CN207976592U ,2018-10-16

[5]

电子元器件检测装置 [P].

潘福源 ;

张云 .

中国专利 :CN212008851U ,2020-11-24

[6]

一种电子元器件检测装置 [P].

袁绩海 ;

王凯 .

中国专利 :CN212229134U ,2020-12-25

[7]

一种电子元器件检测装置 [P].

李培 .

中国专利 :CN213482359U ,2021-06-18

[8]

电子元器件检测装置 [P].

陆人杰 ;

闫登攀 ;

刘治震 ;

鲍军其 .

中国专利 :CN216209633U ,2022-04-05

[9]

一种用于电子元器件的耐冲击性能检测装置 [P].

赵军友 ;

郑耀春 ;

郑伟 .

中国专利 :CN217033446U ,2022-07-22

[10]

一种用于电子元器件的外观检测装置 [P].

杨国牛 ;

虞帆 ;

陶洋 ;

金颖颖 ;

毛雪 ;

苗涛涛 .

中国专利 :CN218382453U ,2023-01-24

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