学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
一种电子元器件硬度检测装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202020824512.0
申请日
:
2020-05-18
公开(公告)号
:
CN211978583U
公开(公告)日
:
2020-11-20
发明(设计)人
:
黄绍平
申请人
:
申请人地址
:
518128 广东省深圳市宝安区西乡街道草围第二工业区伟信达工业园C栋五楼东
IPC主分类号
:
G01N342
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-11-20
授权
授权
共 50 条
[1]
一种电子元器件硬度检测装置
[P].
王永贵
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王永贵
;
王云桥
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王云桥
;
王荣蛟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王荣蛟
.
中国专利
:CN211086191U
,2020-07-24
[2]
一种电子元器件硬度检测装置
[P].
孙家良
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孙家良
;
孙健
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孙健
.
中国专利
:CN215985592U
,2022-03-08
[3]
一种电子元器件硬度检测装置
[P].
傅飞丹
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
傅飞丹
;
李红光
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李红光
;
虞建刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
虞建刚
.
中国专利
:CN215574405U
,2022-01-18
[4]
一种电子元器件硬度检测装置
[P].
刘永广
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘永广
.
中国专利
:CN214251882U
,2021-09-21
[5]
一种电子元器件检测装置
[P].
张国勋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张国勋
;
焦文慧
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
焦文慧
.
中国专利
:CN217112448U
,2022-08-02
[6]
一种电子元器件质量检测装置
[P].
陈松林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈松林
;
余瑞雄
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
余瑞雄
.
中国专利
:CN218272528U
,2023-01-10
[7]
一种电子元器件硬度检测装置
[P].
廖淼帆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
廖淼帆
.
中国专利
:CN109211699A
,2019-01-15
[8]
一种电子元器件硬度检测装置
[P].
王涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
陕西特赛电子科技有限公司
陕西特赛电子科技有限公司
王涛
;
王小飞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
陕西特赛电子科技有限公司
陕西特赛电子科技有限公司
王小飞
.
中国专利
:CN118641392B
,2025-02-07
[9]
一种电子元器件硬度检测装置
[P].
王涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
陕西特赛电子科技有限公司
陕西特赛电子科技有限公司
王涛
;
王小飞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
陕西特赛电子科技有限公司
陕西特赛电子科技有限公司
王小飞
.
中国专利
:CN118641392A
,2024-09-13
[10]
电子元器件检测装置
[P].
潘福源
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
潘福源
;
张云
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张云
.
中国专利
:CN212008851U
,2020-11-24
←
1
2
3
4
5
→