一种电子元器件硬度检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410896233.8

申请日：

2024-07-04

公开(公告)号：

CN118641392A

公开(公告)日：

2024-09-13

发明(设计)人：

王涛王小飞

申请人：

陕西特赛电子科技有限公司

申请人地址：

712000 陕西省咸阳市秦都区高新区星火大道中国电子西部智谷B10-2栋

IPC主分类号：

G01N3/40

IPC分类号：

G01N3/02 B65G47/248

代理机构：

陕西大马蜂知识产权代理事务所(普通合伙) 61313

代理人：

李梦楠

法律状态：

公开

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-09-13	公开	公开
2025-02-07	授权	授权
2024-10-01	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 3/40申请日:20240704

共 50 条

[1]

一种电子元器件硬度检测装置 [P].

王涛 ;

王小飞 .

中国专利 :CN118641392B ,2025-02-07

[2]

一种电子元器件硬度检测装置 [P].

廖淼帆 .

中国专利 :CN109211699A ,2019-01-15

[3]

一种电子元器件硬度检测装置 [P].

孙家良 ;

孙健 .

中国专利 :CN215985592U ,2022-03-08

[4]

一种电子元器件硬度检测装置 [P].

黄绍平 .

中国专利 :CN211978583U ,2020-11-20

[5]

一种电子元器件硬度检测装置 [P].

傅飞丹 ;

李红光 ;

虞建刚 .

中国专利 :CN215574405U ,2022-01-18

[6]

一种电子元器件硬度检测装置 [P].

王永贵 ;

王云桥 ;

王荣蛟 .

中国专利 :CN211086191U ,2020-07-24

[7]

一种电子元器件硬度检测装置 [P].

刘永广 .

中国专利 :CN214251882U ,2021-09-21

[8]

一种电子元器件硬度检测装置及其使用方法 [P].

钟伟海 .

中国专利 :CN119869951A ,2025-04-25

[9]

一种电子元器件的硬度检测装置 [P].

张林 ;

王茜 ;

朱林 ;

李伍洋 .

中国专利 :CN119666624A ,2025-03-21

[10]

一种电子元器件的加工硬度检测装置 [P].

陆久高 .

中国专利 :CN114279876A ,2022-04-05

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