用于热控涂层性能原位测试的辐射计

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201010107445.1

申请日：

2010-02-05

公开(公告)号：

CN101813650B

公开(公告)日：

2010-08-25

发明(设计)人：

赵慧洁邢辉张颖王立张庆祥唐吾

申请人：

申请人地址：

100191 北京市海淀区学院路37号北航17系

IPC主分类号：

G01N2520

IPC分类号：

代理机构：

北京慧泉知识产权代理有限公司 11232

代理人：

王顺荣;唐爱华

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-06-27	授权	授权
2010-08-25	公开	公开
2011-04-20	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101064088137 IPC(主分类):G01N 25/20 专利申请号:2010101074451 申请日:20100205
2015-04-01	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101603734417 IPC(主分类):G01N 25/20 专利号:ZL2010101074451 申请日:20100205 授权公告日:20120627 终止日期:20140205

共 50 条

[1]

用于太阳电池防护涂层光学性能原位测试的光度计 [P].

赵慧洁 ;

张颖 ;

唐吾 ;

邢辉 ;

张庆祥 ;

王立 .

中国专利 :CN101788476B ,2010-07-28

[2]

热控涂层材料的“原位”测试方法 [P].

奚益明 ;

陈杰锋 .

中国专利 :CN1049733C ,1998-05-06

[3]

用于太阳辐照度定标的绝对辐射计及辐射计内部热结构 [P].

王凯 ;

唐潇 ;

方伟 ;

王玉鹏 .

中国专利 :CN106248203A ,2016-12-21

[4]

一种低温辐射计热结构 [P].

庄新港 ;

刘红博 ;

史学舜 ;

张鹏举 ;

刘长明 ;

刘红元 ;

王恒飞 .

中国专利 :CN108801454A ,2018-11-13

[5]

一种毫米波辐射计测试的等效装置 [P].

彭树生 ;

宋俊志 ;

李冬 ;

吴礼 .

中国专利 :CN106526550A ,2017-03-22

[6]

用于监测光谱辐射计的方法和设备 [P].

M·赫 ;

R·黑林 ;

F·舍韦 ;

M·曼格斯特尔 ;

T·科普 .

德国专利 :CN112840182B ,2024-10-01

[7]

用于监测光谱辐射计的方法和设备 [P].

M·赫 ;

R·黑林 ;

F·舍韦 ;

M·曼格斯特尔 ;

T·科普 .

中国专利 :CN112840182A ,2021-05-25

[8]

紫外增强型电学定标热释电辐射计 [P].

庄松林 ;

瑚琦 ;

顾玲娟 ;

苏锦文 ;

侯建伟 ;

殷森余 ;

邵秀梅 ;

丁洁莹 .

中国专利 :CN100465594C ,2006-08-16

[9]

用于提高可变发射率热控涂层性能的方法 [P].

冯煜东 ;

王艺 ;

王志民 ;

速小梅 ;

赵慨 .

中国专利 :CN101152777A ,2008-04-02

[10]

一种低温辐射计用测试集成装置及测试方法 [P].

庄新港 ;

史学舜 ;

刘红博 ;

张鹏举 ;

刘长明 ;

王恒飞 .

中国专利 :CN110440911A ,2019-11-12

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