检测装置以及检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210113454.0

申请日：

2012-04-17

公开(公告)号：

CN102745134A

公开(公告)日：

2012-10-24

发明(设计)人：

长谷川敬一

申请人：

申请人地址：

日本神奈川县

IPC主分类号：

B60Q1100

IPC分类号：

B60Q100 H04N5235

代理机构：

北京市柳沈律师事务所 11105

代理人：

胡金珑

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-05-14	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101582177521 IPC(主分类):B60Q 11/00 专利申请号:2012101134540 申请日:20120417
2012-10-24	公开	公开
2016-06-22	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101734392347 IPC(主分类):B60Q 11/00 专利申请号:2012101134540 申请公布日:20121024

共 50 条

[1]

检测装置以及检测方法 [P].

远藤将幸 ;

下野勉 .

中国专利 :CN105376477A ,2016-03-02

[2]

检测装置以及检测方法 [P].

林泰弘 ;

陈松 .

中国专利 :CN116499339B ,2025-11-11

[3]

检测系统、检测装置以及检测方法 [P].

安藤信太郎 .

中国专利 :CN108375772A ,2018-08-07

[4]

检测装置、检测系统以及检测方法 [P].

小河升平 .

日本专利 :CN117597712A ,2024-02-23

[5]

检测方法、检测装置以及记录介质 [P].

佐藤武志 .

中国专利 :CN107871309B ,2018-04-03

[6]

荧光检测方法以及荧光检测装置 [P].

星岛一辉 ;

林弘能 ;

中田成幸 .

中国专利 :CN101960289A ,2011-01-26

[7]

荧光检测装置以及荧光检测方法 [P].

星岛一辉 .

中国专利 :CN102713577A ,2012-10-03

[8]

检测装置以及检测方法 [P].

村田晶子 ;

原恒平 ;

佐佐木良树 .

中国专利 :CN111868500A ,2020-10-30

[9]

检测方法以及检测装置 [P].

石渡辉行 ;

荒莳勲 .

中国专利 :CN105981200A ,2016-09-28

[10]

检测装置以及检测方法 [P].

长沼新 .

日本专利 :CN117630633A ,2024-03-01

← 1 2 3 4 5 →