荧光检测方法以及荧光检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200980107755.9

申请日：

2009-02-18

公开(公告)号：

CN101960289A

公开(公告)日：

2011-01-26

发明(设计)人：

星岛一辉林弘能中田成幸

申请人：

申请人地址：

日本国东京都

IPC主分类号：

G01N1514

IPC分类号：

G01N2164

代理机构：

北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100

代理人：

程凤儒

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-03-23	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101058492487 IPC(主分类):G01N 15/14 专利申请号:2009801077559 申请日:20090218
2012-09-05	授权	授权
2011-01-26	公开	公开
2015-04-08	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101604516315 IPC(主分类):G01N 15/14 专利号:ZL2009801077559 申请日:20090218 授权公告日:20120905 终止日期:20140218

共 50 条

[1]

荧光检测装置以及荧光检测方法 [P].

星岛一辉 .

中国专利 :CN102713577A ,2012-10-03

[2]

荧光检测方法、荧光检测装置以及程序 [P].

林弘能 .

中国专利 :CN102317762A ,2012-01-11

[3]

荧光检测装置、荧光检测方法以及荧光信号的信号处理方法 [P].

林弘能 ;

中田成幸 ;

星岛一辉 ;

土井恭二 .

中国专利 :CN102713574A ,2012-10-03

[4]

荧光检测装置和荧光检测方法 [P].

土井恭二 ;

林弘能 ;

星岛一辉 ;

浅野有美 .

中国专利 :CN102822665A ,2012-12-12

[5]

荧光检测装置及荧光检测方法 [P].

中田成幸 ;

土井恭二 .

中国专利 :CN102308200A ,2012-01-04

[6]

荧光检测装置和荧光检测方法 [P].

星岛一辉 .

中国专利 :CN102272575A ,2011-12-07

[7]

荧光检测装置及荧光检测方法 [P].

林弘能 .

中国专利 :CN102292630A ,2011-12-21

[8]

荧光检测装置及荧光检测方法 [P].

土井恭二 .

中国专利 :CN102272582A ,2011-12-07

[9]

荧光检测装置和荧光检测方法 [P].

林弘能 .

中国专利 :CN101939632A ,2011-01-05

[10]

荧光检测装置及荧光检测方法 [P].

星岛一辉 ;

中田成幸 .

中国专利 :CN102272584A ,2011-12-07

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