荧光检测装置和荧光检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201080025626.8
申请日
2010-05-27
公开(公告)号
CN102822665A
公开(公告)日
2012-12-12
发明(设计)人
土井恭二 林弘能 星岛一辉 浅野有美
申请人
申请人地址
日本国东京都
IPC主分类号
G01N2164
IPC分类号
代理机构
北京万慧达知识产权代理有限公司 11111
代理人
杨颖;张一军
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
荧光检测装置和荧光检测方法 [P]. 
中田成幸 ;
土井恭二 .
中国专利 :CN102317761A ,2012-01-11
[2]
荧光检测装置和荧光检测方法 [P]. 
星岛一辉 .
中国专利 :CN102272575A ,2011-12-07
[3]
荧光检测装置和荧光检测方法 [P]. 
林弘能 .
中国专利 :CN101939632A ,2011-01-05
[4]
荧光检测装置和荧光检测方法 [P]. 
星岛一辉 ;
中田成幸 .
中国专利 :CN102713575A ,2012-10-03
[5]
荧光检测装置及荧光检测方法 [P]. 
中田成幸 ;
土井恭二 .
中国专利 :CN102308200A ,2012-01-04
[6]
荧光检测装置和荧光检测方法 [P]. 
林弘能 ;
中田成幸 .
中国专利 :CN101939633A ,2011-01-05
[7]
荧光检测装置及荧光检测方法 [P]. 
林弘能 .
中国专利 :CN102292630A ,2011-12-21
[8]
荧光检测装置及荧光检测方法 [P]. 
土井恭二 .
中国专利 :CN102272582A ,2011-12-07
[9]
荧光检测装置以及荧光检测方法 [P]. 
星岛一辉 .
中国专利 :CN102713577A ,2012-10-03
[10]
荧光检测方法、荧光检测装置以及程序 [P]. 
林弘能 .
中国专利 :CN102317762A ,2012-01-11