荧光检测方法、荧光检测装置以及程序

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201080007694.1

申请日：

2010-02-04

公开(公告)号：

CN102317762A

公开(公告)日：

2012-01-11

发明(设计)人：

林弘能

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01N2164

IPC分类号：

代理机构：

北京万慧达知识产权代理有限公司 11111

代理人：

杨颖;张一军

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-01-15	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101686140162 IPC(主分类):G01N 21/64 专利申请号:2010800076941 申请公布日:20120111
2012-01-11	公开	公开
2012-03-07	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101194112998 IPC(主分类):G01N 21/64 专利申请号:2010800076941 申请日:20100204

共 50 条

[1]

荧光检测装置、荧光检测方法以及荧光信号的信号处理方法 [P].

林弘能 ;

中田成幸 ;

星岛一辉 ;

土井恭二 .

中国专利 :CN102713574A ,2012-10-03

[2]

荧光检测装置和荧光检测方法 [P].

林弘能 .

中国专利 :CN101939632A ,2011-01-05

[3]

荧光检测装置以及荧光检测方法 [P].

星岛一辉 .

中国专利 :CN102713577A ,2012-10-03

[4]

荧光检测装置及荧光检测方法 [P].

中田成幸 ;

土井恭二 .

中国专利 :CN102308200A ,2012-01-04

[5]

荧光检测方法以及荧光检测装置 [P].

星岛一辉 ;

林弘能 ;

中田成幸 .

中国专利 :CN101960289A ,2011-01-26

[6]

荧光检测装置和荧光检测方法 [P].

星岛一辉 .

中国专利 :CN102272575A ,2011-12-07

[7]

荧光检测装置和荧光检测方法 [P].

林弘能 ;

中田成幸 .

中国专利 :CN101939633A ,2011-01-05

[8]

荧光检测装置和荧光检测方法 [P].

中田成幸 ;

土井恭二 .

中国专利 :CN102317761A ,2012-01-11

[9]

荧光检测装置和荧光检测方法 [P].

星岛一辉 ;

中田成幸 .

中国专利 :CN102713575A ,2012-10-03

[10]

荧光检测装置和荧光检测方法 [P].

土井恭二 ;

林弘能 ;

星岛一辉 ;

浅野有美 .

中国专利 :CN102822665A ,2012-12-12

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