荧光检测装置和荧光检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201080003854.5

申请日：

2010-01-15

公开(公告)号：

CN102272575A

公开(公告)日：

2011-12-07

发明(设计)人：

星岛一辉

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01N1514

IPC分类号：

G01N2164 G01N2178

代理机构：

北京万慧达知识产权代理有限公司 11111

代理人：

邬玥;张一军

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-12-07	公开	公开
2012-01-25	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101174912327 IPC(主分类):G01N 15/14 专利申请号:2010800038545 申请日:20100115
2013-12-18	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101681863169 IPC(主分类):G01N 15/14 专利申请号:2010800038545 申请公布日:20111207

共 50 条

[1]

荧光检测装置和荧光检测方法 [P].

中田成幸 ;

土井恭二 .

中国专利 :CN102317761A ,2012-01-11

[2]

荧光检测装置和荧光检测方法 [P].

林弘能 .

中国专利 :CN101939632A ,2011-01-05

[3]

荧光检测装置和荧光检测方法 [P].

星岛一辉 ;

中田成幸 .

中国专利 :CN102713575A ,2012-10-03

[4]

荧光检测装置及荧光检测方法 [P].

中田成幸 ;

土井恭二 .

中国专利 :CN102308200A ,2012-01-04

[5]

荧光检测装置和荧光检测方法 [P].

土井恭二 ;

林弘能 ;

星岛一辉 ;

浅野有美 .

中国专利 :CN102822665A ,2012-12-12

[6]

荧光检测装置和荧光检测方法 [P].

林弘能 ;

中田成幸 .

中国专利 :CN101939633A ,2011-01-05

[7]

荧光检测装置及荧光检测方法 [P].

土井恭二 .

中国专利 :CN102272582A ,2011-12-07

[8]

荧光检测装置以及荧光检测方法 [P].

星岛一辉 .

中国专利 :CN102713577A ,2012-10-03

[9]

荧光检测方法、荧光检测装置以及程序 [P].

林弘能 .

中国专利 :CN102317762A ,2012-01-11

[10]

荧光检测装置及荧光检测方法 [P].

林弘能 .

中国专利 :CN102292630A ,2011-12-21

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