一种用于检测芯片的耐高温性的检测设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201620716533.4

申请日：

2016-07-08

公开(公告)号：

CN205982534U

公开(公告)日：

2017-02-22

发明(设计)人：

冯艳高杰王广武李振东刘杰锋贺先要

申请人：

申请人地址：

410129 湖南省长沙市芙蓉区长榔路88号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

长沙市标致专利代理事务所(普通合伙) 43218

代理人：

徐邵华

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-02-22	授权	授权

共 50 条

[1]

检测耐高温程度的检测设备 [P].

许超 ;

许来金 .

中国专利 :CN207181658U ,2018-04-03

[2]

一种用于电子元件的耐高温性检测设备 [P].

祁辉 ;

陈孔云 ;

高明亮 .

中国专利 :CN222618719U ,2025-03-14

[3]

一种用于面料生产的面料耐高温检测设备 [P].

王星 .

中国专利 :CN215768342U ,2022-02-08

[4]

一种基于橡胶的耐高温性检测设备 [P].

蔡梦晓 .

中国专利 :CN212780594U ,2021-03-23

[5]

一种金属耐高温性检测设备 [P].

胡晓维 .

中国专利 :CN213121690U ,2021-05-04

[6]

一种金属耐高温性检测设备 [P].

王亚乐 .

中国专利 :CN221583343U ,2024-08-23

[7]

一种电子元器件的耐高温性检测设备 [P].

邵正保 ;

赵虎政 .

中国专利 :CN209264856U ,2019-08-16

[8]

一种电子元器件的耐高温性检测设备 [P].

韩越 ;

刘晓星 .

中国专利 :CN213715336U ,2021-07-16

[9]

一种耐高温涂层的检测设备 [P].

马林旭 ;

张慧星 ;

耿可屏 ;

李成营 ;

王丽 .

中国专利 :CN211425379U ,2020-09-04

[10]

一种用于检测芯片漏电流的检测设备 [P].

郑云华 .

中国专利 :CN216351153U ,2022-04-19

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