转子测试方法、测试装置、测试系统及可读存储介质

被引：0

申请号：

CN202211085883.1

申请日：

2022-09-06

公开(公告)号：

CN115468754A

公开(公告)日：

2022-12-13

发明(设计)人：

方雯成双立李海峰李伟

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区牛顿路501号2幢105室

IPC主分类号：

G01M1300

IPC分类号：

G01D2102

代理机构：

上海思捷知识产权代理有限公司 31295

代理人：

罗磊

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-12-30	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 13/00 申请日:20220906
2022-12-13	公开	公开

共 50 条

[1]

测试系统、测试方法、测试装置及存储介质 [P].

张洲川 .

中国专利 :CN109298266B ,2019-02-01

[2]

转子临界转速测试系统、测试方法及可读存储介质 [P].

方雯 ;

马莹 ;

魏波 .

中国专利 :CN114520612A ,2022-05-20

[3]

测试方法、测试装置及可读存储介质 [P].

马伟哲 ;

罗金阁 ;

肖俊阳 ;

马彬 ;

袁国权 ;

吴新 ;

曾通 ;

林杰 ;

程武平 ;

弓国军 ;

蔡泽瀚 .

中国专利 :CN117991022A ,2024-05-07

[4]

硬件在环测试方法、测试装置、测试系统和可读存储介质 [P].

黄礼 ;

钟日敏 ;

邵杰 ;

杨一琴 ;

陈显福 .

中国专利 :CN113589787A ,2021-11-02

[5]

测试装置、测试的方法及存储介质 [P].

罗锐 ;

张薇 .

中国专利 :CN108777141B ,2018-11-09

[6]

一种测试方法、测试装置、测试系统及存储介质 [P].

何家乐 ;

杨奇 ;

李良川 .

中国专利 :CN120880549A ,2025-10-31

[7]

面板测试装置、面板测试方法、面板测试系统及存储介质 [P].

杨可 ;

袁海江 .

中国专利 :CN119087177A ,2024-12-06

[8]

仿真测试装置、仿真测试方法、仿真测试系统及存储介质 [P].

宋亚伟 ;

林智桂 ;

付广 ;

邓伟明 ;

张家洛 .

中国专利 :CN113805496A ,2021-12-17

[9]

换热设备测试装置、测试方法、测试系统及存储介质 [P].

吴鹏飞 ;

刘新宇 ;

高涵 ;

张理 ;

朱健华 ;

黄世苗 ;

吴永鹏 .

中国专利 :CN115343088A ,2022-11-15

[10]

测试方法、测试系统及可读存储介质 [P].

于晓晴 ;

谈时 ;

冯铸 .

中国专利 :CN110542862A ,2019-12-06

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