转子临界转速测试系统、测试方法及可读存储介质

被引：0

申请号：

CN202210142555.4

申请日：

2022-02-16

公开(公告)号：

CN114520612A

公开(公告)日：

2022-05-20

发明(设计)人：

方雯马莹魏波

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区牛顿路501号2幢105室

IPC主分类号：

H02P2118

IPC分类号：

A61B1717 A61F246

代理机构：

上海思捷知识产权代理有限公司 31295

代理人：

许静

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-20	公开	公开
2022-06-07	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H02P 21/18 申请日:20220216

共 50 条

[1]

转子测试方法、测试装置、测试系统及可读存储介质 [P].

方雯 ;

成双立 ;

李海峰 ;

李伟 .

中国专利 :CN115468754A ,2022-12-13

[2]

测试方法、测试系统及可读存储介质 [P].

于晓晴 ;

谈时 ;

冯铸 .

中国专利 :CN110542862A ,2019-12-06

[3]

电机转速测试方法、装置及可读存储介质 [P].

王珏 .

中国专利 :CN114578084A ,2022-06-03

[4]

电池性能测试方法、测试终端、可读存储介质及测试系统 [P].

张楚明 ;

苏壮志 ;

陈邦政 .

中国专利 :CN107621607B ,2018-01-23

[5]

WAT测试系统、方法及可读存储介质 [P].

杨峰 ;

赵志伟 ;

吴昌付 .

中国专利 :CN118707159A ,2024-09-27

[6]

产品测试方法、系统及可读存储介质 [P].

刘小雄 ;

邓子明 ;

陈文洪 ;

罗光辉 ;

周勤勉 .

中国专利 :CN112730406A ,2021-04-30

[7]

测试方法、装置、系统及可读存储介质 [P].

王攀 .

中国专利 :CN118010368A ,2024-05-10

[8]

测试系统、方法、设备及可读存储介质 [P].

付潼 ;

李震 ;

田洋 ;

赵帅 ;

王瑞芳 .

中国专利 :CN109213681A ,2019-01-15

[9]

测试系统、测试方法及计算机可读存储介质 [P].

丁敏 ;

邹爱华 ;

张萍 ;

丁涛 .

中国专利 :CN118157778A ,2024-06-07

[10]

测试方法、测试系统及计算机可读存储介质 [P].

丁晓峰 ;

王超 .

中国专利 :CN110233779B ,2019-09-13

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