产品测试方法、系统及可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011498707.1

申请日：

2020-12-17

公开(公告)号：

CN112730406A

公开(公告)日：

2021-04-30

发明(设计)人：

刘小雄邓子明陈文洪罗光辉周勤勉

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区石岩街道浪心社区料坑第三工业区3号二层至五层;在宝安区石岩街道松白路创维数字大厦403A室设有办公场所

IPC主分类号：

G01N2184

IPC分类号：

G01N2125 G01N2101 G01D2102 G06T700 G06T713 G06T790

代理机构：

深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542

代理人：

刘冰

法律状态：

公开

国省代码：

引用

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共 50 条

[1]

测试方法、测试系统及可读存储介质 [P].

于晓晴 ;

谈时 ;

冯铸 .

中国专利 :CN110542862A ,2019-12-06

[2]

测试系统、测试方法及计算机可读存储介质 [P].

衣存宇 ;

洪申平 ;

沙宏磊 ;

沈虹 ;

韩景超 ;

刘万虎 ;

李凯 ;

魏靖 ;

董丽佳 .

中国专利 :CN112240944A ,2021-01-19

[3]

测试系统、测试方法、可读存储介质及计算机程序产品 [P].

代书洋 .

中国专利 :CN119166500A ,2024-12-20

[4]

WAT测试系统、方法及可读存储介质 [P].

杨峰 ;

赵志伟 ;

吴昌付 .

中国专利 :CN118707159A ,2024-09-27

[5]

测试系统、方法、设备及可读存储介质 [P].

付潼 ;

李震 ;

田洋 ;

赵帅 ;

王瑞芳 .

中国专利 :CN109213681A ,2019-01-15

[6]

芯片测试方法、系统及可读存储介质 [P].

梁小江 ;

连光 ;

陆钺 ;

蒲莉娟 .

中国专利 :CN113203935A ,2021-08-03

[7]

芯片测试方法、系统及可读存储介质 [P].

梁小江 ;

连光 ;

陆钺 ;

蒲莉娟 .

中国专利 :CN113203935B ,2024-06-28

[8]

测试方法、装置、系统及可读存储介质 [P].

王攀 .

中国专利 :CN118010368A ,2024-05-10

[9]

产品测试系统、方法、设备及计算机可读存储介质 [P].

牛堃 ;

成锐 ;

朱红军 ;

陈超 ;

张星 .

中国专利 :CN118294847A ,2024-07-05

[10]

测试方法、装置、设备、可读存储介质及程序产品 [P].

黄星 ;

陈硕 ;

徐旭明 ;

曾凡晨 ;

王亚男 ;

王静 .

中国专利 :CN115373929A ,2022-11-22

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-04-30	公开	公开
2021-05-21	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/84 申请日:20201217