芯片测试方法、系统及可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110267466.8

申请日：

2021-03-11

公开(公告)号：

CN113203935A

公开(公告)日：

2021-08-03

发明(设计)人：

梁小江连光陆钺蒲莉娟

申请人：

申请人地址：

343000 江西省吉安市井冈山经济技术开发区火炬大道192号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

深圳市君之泉知识产权代理有限公司 44366

代理人：

吕战竹

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-08-03	公开	公开
2021-08-20	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20210311

共 50 条

[1]

芯片测试方法、系统及可读存储介质 [P].

梁小江 ;

连光 ;

陆钺 ;

蒲莉娟 .

中国专利 :CN113203935B ,2024-06-28

[2]

芯片测试方法、设备及存储介质 [P].

高平羽 ;

程之龙 ;

曹庆 ;

闫百松 ;

王璐璞 .

中国专利 :CN119883761A ,2025-04-25

[3]

芯片测试系统、芯片测试方法、芯片及存储介质 [P].

黄松 ;

范兵 ;

黄观冰 ;

杜林恒 ;

王传寿 ;

刘超 .

中国专利 :CN120560911A ,2025-08-29

[4]

芯片测试方法、芯片测试设备及可读存储介质 [P].

周轲 ;

董阳 ;

张钰磊 .

中国专利 :CN121168363A ,2025-12-19

[5]

芯片测试方法、系统、设备及存储介质 [P].

许应 ;

刘恒甫 ;

马雪振 ;

成源涛 .

中国专利 :CN119375665A ,2025-01-28

[6]

芯片测试方法、装置、系统、可读存储介质及程序产品 [P].

倪卫华 ;

郑朝晖 .

中国专利 :CN120429184B ,2025-09-19

[7]

芯片测试方法、装置、系统、可读存储介质及程序产品 [P].

倪卫华 ;

郑朝晖 .

中国专利 :CN120429184A ,2025-08-05

[8]

MEMS芯片的测试方法及系统、存储介质 [P].

朱炯 ;

方泽莉 .

中国专利 :CN118837726B ,2024-12-17

[9]

MEMS芯片的测试方法及系统、存储介质 [P].

朱炯 ;

方泽莉 .

中国专利 :CN118837726A ,2024-10-25

[10]

FPGA芯片测试方法、装置、系统及存储介质 [P].

张家华 ;

刘伟 ;

刘乐 ;

魏寅 ;

曾岩 ;

赵海洋 ;

孔晓琳 ;

李安平 .

中国专利 :CN113376514B ,2021-09-10

← 1 2 3 4 5 →