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MEMS芯片的测试方法及系统、存储介质
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411310362.0
申请日
:
2024-09-20
公开(公告)号
:
CN118837726A
公开(公告)日
:
2024-10-25
发明(设计)人
:
朱炯
方泽莉
申请人
:
绍兴圆方半导体有限公司
申请人地址
:
312035 浙江省绍兴市越城区皋埠街道银桥路326号3号楼2层203、204、206室
IPC主分类号
:
G01R31/28
IPC分类号
:
代理机构
:
深圳市嘉勤知识产权代理有限公司 44651
代理人
:
范伟民
法律状态
:
授权
国省代码
:
浙江省 绍兴市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-12-17
授权
授权
2024-11-12
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240920
2024-10-25
公开
公开
共 50 条
[1]
MEMS芯片的测试方法及系统、存储介质
[P].
朱炯
论文数:
0
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0
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机构:
绍兴圆方半导体有限公司
绍兴圆方半导体有限公司
朱炯
;
方泽莉
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机构:
绍兴圆方半导体有限公司
绍兴圆方半导体有限公司
方泽莉
.
中国专利
:CN118837726B
,2024-12-17
[2]
芯片测试系统、芯片测试方法、芯片及存储介质
[P].
黄松
论文数:
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机构:
腾讯科技(深圳)有限公司
腾讯科技(深圳)有限公司
黄松
;
范兵
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机构:
腾讯科技(深圳)有限公司
腾讯科技(深圳)有限公司
范兵
;
黄观冰
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机构:
腾讯科技(深圳)有限公司
腾讯科技(深圳)有限公司
黄观冰
;
杜林恒
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机构:
腾讯科技(深圳)有限公司
腾讯科技(深圳)有限公司
杜林恒
;
王传寿
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机构:
腾讯科技(深圳)有限公司
腾讯科技(深圳)有限公司
王传寿
;
刘超
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机构:
腾讯科技(深圳)有限公司
腾讯科技(深圳)有限公司
刘超
.
中国专利
:CN120560911A
,2025-08-29
[3]
芯片测试方法、系统及可读存储介质
[P].
梁小江
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梁小江
;
连光
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连光
;
陆钺
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陆钺
;
蒲莉娟
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蒲莉娟
.
中国专利
:CN113203935A
,2021-08-03
[4]
芯片测试方法、系统及可读存储介质
[P].
梁小江
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机构:
江西创成微电子有限公司
江西创成微电子有限公司
梁小江
;
连光
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机构:
江西创成微电子有限公司
江西创成微电子有限公司
连光
;
陆钺
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机构:
江西创成微电子有限公司
江西创成微电子有限公司
陆钺
;
蒲莉娟
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机构:
江西创成微电子有限公司
江西创成微电子有限公司
蒲莉娟
.
中国专利
:CN113203935B
,2024-06-28
[5]
芯片的测试方法、装置及存储介质
[P].
付国强
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机构:
珠海泰芯半导体有限公司
珠海泰芯半导体有限公司
付国强
;
叶将鹏
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机构:
珠海泰芯半导体有限公司
珠海泰芯半导体有限公司
叶将鹏
;
孙瑞欣
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机构:
珠海泰芯半导体有限公司
珠海泰芯半导体有限公司
孙瑞欣
;
吴君乐
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机构:
珠海泰芯半导体有限公司
珠海泰芯半导体有限公司
吴君乐
.
中国专利
:CN119166434A
,2024-12-20
[6]
芯片测试方法、设备及存储介质
[P].
高平羽
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机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
高平羽
;
程之龙
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机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
程之龙
;
曹庆
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机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
曹庆
;
闫百松
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机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
闫百松
;
王璐璞
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机构:
杭州长川科技股份有限公司
杭州长川科技股份有限公司
王璐璞
.
中国专利
:CN119883761A
,2025-04-25
[7]
芯片测试方法、芯片测试系统、存储介质及程序产品
[P].
黄祚恺
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
黄祚恺
;
陈俊任
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
陈俊任
;
冯荣城
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
冯荣城
;
张颢哲
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
张颢哲
;
何东承
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机构:
深圳市辰卓科技股份有限公司
深圳市辰卓科技股份有限公司
何东承
.
中国专利
:CN120629885A
,2025-09-12
[8]
MEMS芯片测试系统、方法、装置及介质
[P].
瞿冠欣
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机构:
北歌(潍坊)智能科技有限公司
北歌(潍坊)智能科技有限公司
瞿冠欣
;
苗晓杰
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机构:
北歌(潍坊)智能科技有限公司
北歌(潍坊)智能科技有限公司
苗晓杰
.
中国专利
:CN119788707A
,2025-04-08
[9]
芯片测试方法、系统、设备及存储介质
[P].
许应
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机构:
深圳市辰卓科技有限公司
深圳市辰卓科技有限公司
许应
;
刘恒甫
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机构:
深圳市辰卓科技有限公司
深圳市辰卓科技有限公司
刘恒甫
;
马雪振
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机构:
深圳市辰卓科技有限公司
深圳市辰卓科技有限公司
马雪振
;
成源涛
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机构:
深圳市辰卓科技有限公司
深圳市辰卓科技有限公司
成源涛
.
中国专利
:CN119375665A
,2025-01-28
[10]
芯片测试方法、系统、设备及存储介质
[P].
陈志祥
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机构:
珠海芯试界半导体科技有限公司
珠海芯试界半导体科技有限公司
陈志祥
;
孔晓琳
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机构:
珠海芯试界半导体科技有限公司
珠海芯试界半导体科技有限公司
孔晓琳
;
王健
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机构:
珠海芯试界半导体科技有限公司
珠海芯试界半导体科技有限公司
王健
;
云星
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机构:
珠海芯试界半导体科技有限公司
珠海芯试界半导体科技有限公司
云星
.
中国专利
:CN118152197B
,2024-11-12
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