MEMS芯片的测试方法及系统、存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411310362.0
申请日
2024-09-20
公开(公告)号
CN118837726A
公开(公告)日
2024-10-25
发明(设计)人
朱炯 方泽莉
申请人
绍兴圆方半导体有限公司
申请人地址
312035 浙江省绍兴市越城区皋埠街道银桥路326号3号楼2层203、204、206室
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
代理机构
深圳市嘉勤知识产权代理有限公司 44651
代理人
范伟民
法律状态
授权
国省代码
浙江省 绍兴市
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
MEMS芯片的测试方法及系统、存储介质 [P]. 
朱炯 ;
方泽莉 .
中国专利 :CN118837726B ,2024-12-17
[2]
芯片测试系统、芯片测试方法、芯片及存储介质 [P]. 
黄松 ;
范兵 ;
黄观冰 ;
杜林恒 ;
王传寿 ;
刘超 .
中国专利 :CN120560911A ,2025-08-29
[3]
芯片测试方法、系统及可读存储介质 [P]. 
梁小江 ;
连光 ;
陆钺 ;
蒲莉娟 .
中国专利 :CN113203935A ,2021-08-03
[4]
芯片测试方法、系统及可读存储介质 [P]. 
梁小江 ;
连光 ;
陆钺 ;
蒲莉娟 .
中国专利 :CN113203935B ,2024-06-28
[5]
芯片的测试方法、装置及存储介质 [P]. 
付国强 ;
叶将鹏 ;
孙瑞欣 ;
吴君乐 .
中国专利 :CN119166434A ,2024-12-20
[6]
芯片测试方法、设备及存储介质 [P]. 
高平羽 ;
程之龙 ;
曹庆 ;
闫百松 ;
王璐璞 .
中国专利 :CN119883761A ,2025-04-25
[7]
芯片测试方法、芯片测试系统、存储介质及程序产品 [P]. 
黄祚恺 ;
陈俊任 ;
冯荣城 ;
张颢哲 ;
何东承 .
中国专利 :CN120629885A ,2025-09-12
[8]
MEMS芯片测试系统、方法、装置及介质 [P]. 
瞿冠欣 ;
苗晓杰 .
中国专利 :CN119788707A ,2025-04-08
[9]
芯片测试方法、系统、设备及存储介质 [P]. 
许应 ;
刘恒甫 ;
马雪振 ;
成源涛 .
中国专利 :CN119375665A ,2025-01-28
[10]
芯片测试方法、系统、设备及存储介质 [P]. 
陈志祥 ;
孔晓琳 ;
王健 ;
云星 .
中国专利 :CN118152197B ,2024-11-12