芯片的测试方法、装置及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411245579.8

申请日：

2024-09-06

公开(公告)号：

CN119166434A

公开(公告)日：

2024-12-20

发明(设计)人：

付国强叶将鹏孙瑞欣吴君乐

申请人：

珠海泰芯半导体有限公司

申请人地址：

519000 广东省珠海市高新区唐家湾镇金唐路1号港湾1号科创园2栋3-4层

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

代理机构：

广东朗乾律师事务所 44291

代理人：

杨焕军

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省珠海市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-07	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20240906
2024-12-20	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片测试方法、装置、芯片及存储介质 [P].

李晨 ;

肖珂 ;

布恩辉 ;

李健强 .

中国专利 :CN113641541A ,2021-11-12

[2]

芯片测试方法、装置、存储介质及芯片 [P].

杨健明 ;

黄立伟 ;

刘浩 ;

张静 .

中国专利 :CN115587026A ,2023-01-10

[3]

芯片测试方法、设备及存储介质 [P].

高平羽 ;

程之龙 ;

曹庆 ;

闫百松 ;

王璐璞 .

中国专利 :CN119883761A ,2025-04-25

[4]

芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质 [P].

孙军凯 ;

张柯 ;

孟祥刚 ;

蒋曦 .

中国专利 :CN114280454B ,2024-01-23

[5]

芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质 [P].

孙军凯 ;

张柯 ;

孟祥刚 ;

蒋曦 .

中国专利 :CN114280454A ,2022-04-05

[6]

芯片测试方法、装置及存储介质 [P].

吴泽民 .

中国专利 :CN119440929A ,2025-02-14

[7]

MEMS芯片的测试方法及系统、存储介质 [P].

朱炯 ;

方泽莉 .

中国专利 :CN118837726B ,2024-12-17

[8]

MEMS芯片的测试方法及系统、存储介质 [P].

朱炯 ;

方泽莉 .

中国专利 :CN118837726A ,2024-10-25

[9]

芯片测试系统、芯片测试方法、芯片及存储介质 [P].

黄松 ;

范兵 ;

黄观冰 ;

杜林恒 ;

王传寿 ;

刘超 .

中国专利 :CN120560911A ,2025-08-29

[10]

芯片的测试方法、装置、测试芯片和存储介质 [P].

高凯仑 ;

曾超 ;

单洋洋 ;

王瑞娜 .

中国专利 :CN117250484B ,2024-03-12

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