芯片测试方法、设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411948601.5

申请日：

2024-12-26

公开(公告)号：

CN119883761A

公开(公告)日：

2025-04-25

发明(设计)人：

高平羽程之龙曹庆闫百松王璐璞

申请人：

杭州长川科技股份有限公司

申请人地址：

310056 浙江省杭州市滨江区聚才路410号

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

代理机构：

北京思源智汇知识产权代理有限公司 11657

代理人：

李欢

法律状态：

公开

国省代码：

浙江省杭州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-25	公开	公开
2025-05-13	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20241226

共 50 条

[1]

芯片测试方法、系统、设备及存储介质 [P].

许应 ;

刘恒甫 ;

马雪振 ;

成源涛 .

中国专利 :CN119375665A ,2025-01-28

[2]

芯片测试系统、芯片测试方法、芯片及存储介质 [P].

黄松 ;

范兵 ;

黄观冰 ;

杜林恒 ;

王传寿 ;

刘超 .

中国专利 :CN120560911A ,2025-08-29

[3]

芯片测试方法、系统及可读存储介质 [P].

梁小江 ;

连光 ;

陆钺 ;

蒲莉娟 .

中国专利 :CN113203935A ,2021-08-03

[4]

芯片测试方法、系统及可读存储介质 [P].

梁小江 ;

连光 ;

陆钺 ;

蒲莉娟 .

中国专利 :CN113203935B ,2024-06-28

[5]

芯片测试方法、系统、终端设备及存储介质 [P].

谢海 ;

温海珊 ;

彭小飞 ;

文少东 ;

吴亮 ;

张首勇 ;

郑敏 ;

田烜宁 .

中国专利 :CN119001391A ,2024-11-22

[6]

芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

史云龙 ;

程之龙 ;

刘岩 ;

范凯毓 .

中国专利 :CN120743645A ,2025-10-03

[7]

芯片测试方法、装置、存储介质及设备 [P].

吴义桂 ;

何骁伟 ;

杨国文 ;

季宿儒 ;

张清华 .

中国专利 :CN112782560A ,2021-05-11

[8]

芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

丁赛赛 ;

仰蕾 ;

熊世英 ;

封芳 ;

许崇 .

中国专利 :CN115437866A ,2022-12-06

[9]

芯片测试方法、芯片测试设备及可读存储介质 [P].

周轲 ;

董阳 ;

张钰磊 .

中国专利 :CN121168363A ,2025-12-19

[10]

芯片测试方法、装置及存储介质 [P].

吴泽民 .

中国专利 :CN119440929A ,2025-02-14

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