芯片测试方法、系统、设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411398062.2

申请日：

2024-09-30

公开(公告)号：

CN119375665A

公开(公告)日：

2025-01-28

发明(设计)人：

许应刘恒甫马雪振成源涛

申请人：

深圳市辰卓科技有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区招商街道沿山社区蛇口南海大道1057号科技大厦二期B座科技大厦二期B栋301

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G11C29/56

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

肖遥

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-08-22	著录事项变更	著录事项变更IPC(主分类):G01R 31/28变更事项:申请人变更前:深圳市辰卓科技有限公司变更后:深圳市辰卓科技股份有限公司变更事项:国家或地区变更前:中国变更后:中国变更事项:地址变更前:518000 广东省深圳市南山区招商街道沿山社区蛇口南海大道1057号科技大厦二期B座科技大厦二期B栋301变更后:518000 广东省深圳市南山区招商街道沿山社区蛇口南海大道1057号科技大厦二期B座科技大厦二期B栋301
2025-02-21	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240930
2025-01-28	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片测试系统、芯片测试方法、芯片及存储介质 [P].

黄松 ;

范兵 ;

黄观冰 ;

杜林恒 ;

王传寿 ;

刘超 .

中国专利 :CN120560911A ,2025-08-29

[2]

芯片测试方法、设备及存储介质 [P].

高平羽 ;

程之龙 ;

曹庆 ;

闫百松 ;

王璐璞 .

中国专利 :CN119883761A ,2025-04-25

[3]

芯片测试方法、芯片测试设备及可读存储介质 [P].

周轲 ;

董阳 ;

张钰磊 .

中国专利 :CN121168363A ,2025-12-19

[4]

芯片测试方法、测试设备、测试系统和存储介质 [P].

董莎莎 .

中国专利 :CN119881593A ,2025-04-25

[5]

芯片测试方法、系统、设备及存储介质 [P].

陈志祥 ;

孔晓琳 ;

王健 ;

云星 .

中国专利 :CN118152197B ,2024-11-12

[6]

芯片测试方法、系统、设备及存储介质 [P].

陈志祥 ;

孔晓琳 ;

王健 ;

云星 .

中国专利 :CN118152197A ,2024-06-07

[7]

芯片测试方法、芯片测试系统、存储介质及程序产品 [P].

黄祚恺 ;

陈俊任 ;

冯荣城 ;

张颢哲 ;

何东承 .

中国专利 :CN120629885A ,2025-09-12

[8]

芯片测试方法、系统、终端设备及存储介质 [P].

谢海 ;

温海珊 ;

彭小飞 ;

文少东 ;

吴亮 ;

张首勇 ;

郑敏 ;

田烜宁 .

中国专利 :CN119001391A ,2024-11-22

[9]

芯片测试方法及装置、系统、控制设备及存储介质 [P].

陈凯 ;

曾巍 ;

黄雪青 ;

金海林 ;

罗聪 ;

陈沛丞 .

中国专利 :CN109884502A ,2019-06-14

[10]

芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

欧永明 .

中国专利 :CN120652255A ,2025-09-16

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