一种能够扣除杂散辐射的红外辐射测量方法及装置

被引：0

申请号：

CN202111255200.8

申请日：

2021-10-27

公开(公告)号：

CN114593822A

公开(公告)日：

2022-06-07

发明(设计)人：

张允祥李新张艳娜韦玮潘琰

申请人：

申请人地址：

230031 安徽省合肥市蜀山区蜀山湖路350号光学遥感中心

IPC主分类号：

G01J500

IPC分类号：

G01J502 G01J512

代理机构：

杭州杭诚专利事务所有限公司 33109

代理人：

郑汝珍

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-06-07	公开	公开
2022-06-24	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 5/00 申请日:20211027

共 50 条

[1]

一种基于背景板扣除内部杂散辐射的红外辐射测量方法 [P].

谷牧 ;

李素钧 ;

周金梅 ;

任栖锋 ;

赵旭龙 ;

王宇 ;

廖胜 .

中国专利 :CN118392324B ,2024-10-15

[2]

一种基于背景板扣除内部杂散辐射的红外辐射测量方法 [P].

谷牧 ;

李素钧 ;

周金梅 ;

任栖锋 ;

赵旭龙 ;

王宇 ;

廖胜 .

中国专利 :CN118392324A ,2024-07-26

[3]

一种热红外光谱仪杂散辐射的测量方法 [P].

刘银年 ;

彭俊 ;

柴孟阳 ;

孙德新 ;

杜浩霆 ;

许越 ;

殷自豪 .

中国专利 :CN110470406A ,2019-11-19

[4]

一种MAT辐射杂散的测量方法 [P].

禹忠 ;

彭宏利 ;

王曼 .

中国专利 :CN101038314A ,2007-09-19

[5]

一种红外光学系统杂散辐射实验测量方法及系统 [P].

杨智慧 ;

张韶辉 ;

郝群 ;

李婷 ;

郭聚光 ;

姜维维 .

中国专利 :CN114152352B ,2024-04-19

[6]

一种红外光学系统杂散辐射实验测量方法及系统 [P].

杨智慧 ;

张韶辉 ;

郝群 ;

李婷 ;

郭聚光 ;

姜维维 .

中国专利 :CN114152352A ,2022-03-08

[7]

一种红外测量系统自身杂散辐射的分析方法 [P].

杨智慧 ;

姜维维 ;

马勇辉 .

中国专利 :CN106053023B ,2016-10-26

[8]

一种红外辐射模拟源系统的辐射强度测量方法 [P].

刘智 ;

郗浚涵 ;

白杨杨 ;

杨阳 ;

刘广文 ;

李旭 ;

董英杰 ;

郭星辰 ;

俞晓彤 .

中国专利 :CN120176858B ,2025-08-22

[9]

一种红外辐射模拟源系统的辐射强度测量方法 [P].

刘智 ;

郗浚涵 ;

白杨杨 ;

杨阳 ;

刘广文 ;

李旭 ;

董英杰 ;

郭星辰 ;

俞晓彤 .

中国专利 :CN120176858A ,2025-06-20

[10]

一种大口径红外光电系统内杂散辐射的测量方法及装置 [P].

李周 ;

何锋赟 ;

余毅 .

中国专利 :CN113092069B ,2021-07-09

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