一种MAT辐射杂散的测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200710100443.8

申请日：

2007-04-06

公开(公告)号：

CN101038314A

公开(公告)日：

2007-09-19

发明(设计)人：

禹忠彭宏利王曼

申请人：

申请人地址：

518057广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法律部

IPC主分类号：

G01R2908

IPC分类号：

H04B1700

代理机构：

代理人：

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-03-19	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 29/08 申请日:20070406 授权公告日:20111026 终止日期:20200406
2009-08-19	实质审查的生效	实质审查的生效
2011-10-26	授权	授权
2007-09-19	公开	公开

共 50 条

[1]

一种MAT传导杂散的测量方法 [P].

王曼 ;

彭宏利 ;

禹忠 .

中国专利 :CN101035352B ,2007-09-12

[2]

一种能够扣除杂散辐射的红外辐射测量方法及装置 [P].

张允祥 ;

李新 ;

张艳娜 ;

韦玮 ;

潘琰 .

中国专利 :CN114593822A ,2022-06-07

[3]

一种基于背景板扣除内部杂散辐射的红外辐射测量方法 [P].

谷牧 ;

李素钧 ;

周金梅 ;

任栖锋 ;

赵旭龙 ;

王宇 ;

廖胜 .

中国专利 :CN118392324B ,2024-10-15

[4]

一种基于背景板扣除内部杂散辐射的红外辐射测量方法 [P].

谷牧 ;

李素钧 ;

周金梅 ;

任栖锋 ;

赵旭龙 ;

王宇 ;

廖胜 .

中国专利 :CN118392324A ,2024-07-26

[5]

一种热红外光谱仪杂散辐射的测量方法 [P].

刘银年 ;

彭俊 ;

柴孟阳 ;

孙德新 ;

杜浩霆 ;

许越 ;

殷自豪 .

中国专利 :CN110470406A ,2019-11-19

[6]

封装杂散参数的测量装置及测量方法 [P].

李博强 ;

宫群 ;

卢韦珊 ;

朱贤龙 .

中国专利 :CN118011168A ,2024-05-10

[7]

封装杂散参数的测量装置及测量方法 [P].

李博强 ;

宫群 ;

卢韦珊 ;

朱贤龙 .

中国专利 :CN118011168B ,2025-09-02

[8]

辐射杂散测试设备和系统、辐射杂散测试方法 [P].

魏延全 ;

吴学文 ;

齐昊 ;

廖建明 ;

邓建坤 ;

罗彪 ;

彭静 .

中国专利 :CN111010242B ,2020-04-14

[9]

一种基于杂散电流模型的地表电位测量方法 [P].

贾磊 ;

刘刚 ;

廖民传 ;

胡上茂 ;

张义 ;

屈路 ;

蔡汉生 ;

胡泰山 ;

冯瑞发 ;

梅琪 ;

刘浩 .

中国专利 :CN112632740B ,2024-02-13

[10]

一种基于快速傅里叶变换的杂散电流测量方法 [P].

王光春 ;

高鹏程 .

中国专利 :CN106526296A ,2017-03-22

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