一种MAT传导杂散的测量方法

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专利类型
发明
申请号
CN200710100447.6
申请日
2007-04-06
公开(公告)号
CN101035352B
公开(公告)日
2007-09-12
发明(设计)人
王曼 彭宏利 禹忠
申请人
申请人地址
518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法律部
IPC主分类号
H04W5200
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共 50 条
[1]
一种MAT辐射杂散的测量方法 [P]. 
禹忠 ;
彭宏利 ;
王曼 .
中国专利 :CN101038314A ,2007-09-19
[2]
封装杂散参数的测量装置及测量方法 [P]. 
李博强 ;
宫群 ;
卢韦珊 ;
朱贤龙 .
中国专利 :CN118011168A ,2024-05-10
[3]
封装杂散参数的测量装置及测量方法 [P]. 
李博强 ;
宫群 ;
卢韦珊 ;
朱贤龙 .
中国专利 :CN118011168B ,2025-09-02
[4]
一种基于杂散电流模型的地表电位测量方法 [P]. 
贾磊 ;
刘刚 ;
廖民传 ;
胡上茂 ;
张义 ;
屈路 ;
蔡汉生 ;
胡泰山 ;
冯瑞发 ;
梅琪 ;
刘浩 .
中国专利 :CN112632740B ,2024-02-13
[5]
一种基于快速傅里叶变换的杂散电流测量方法 [P]. 
王光春 ;
高鹏程 .
中国专利 :CN106526296A ,2017-03-22
[6]
一种基于杂散电流模型的地表电位测量方法 [P]. 
贾磊 ;
刘刚 ;
廖民传 ;
胡上茂 ;
张义 ;
屈路 ;
蔡汉生 ;
胡泰山 ;
冯瑞发 ;
梅琪 ;
刘浩 .
中国专利 :CN112632740A ,2021-04-09
[7]
一种电气器件换流回路杂散参数的测量方法 [P]. 
曾嵘 ;
刘佳鹏 ;
周文鹏 ;
赵彪 ;
余占清 ;
陈政宇 .
中国专利 :CN109709423B ,2019-05-03
[8]
基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量方法及测量装置 [P]. 
刘兰荣 ;
张卫 ;
韩贵胜 ;
王晓燕 ;
范亚娜 ;
石立新 ;
刘涛 ;
王亮 .
中国专利 :CN102262181A ,2011-11-30
[9]
一种热红外光谱仪杂散辐射的测量方法 [P]. 
刘银年 ;
彭俊 ;
柴孟阳 ;
孙德新 ;
杜浩霆 ;
许越 ;
殷自豪 .
中国专利 :CN110470406A ,2019-11-19
[10]
一种能够扣除杂散辐射的红外辐射测量方法及装置 [P]. 
张允祥 ;
李新 ;
张艳娜 ;
韦玮 ;
潘琰 .
中国专利 :CN114593822A ,2022-06-07