半导体晶片、半导体器件以及半导体器件的制造方法

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专利类型
发明
申请号
CN200610084418.0
申请日
2006-05-18
公开(公告)号
CN1866529A
公开(公告)日
2006-11-22
发明(设计)人
大黑达也
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
H01L2712
IPC分类号
H01L2500 H01L25065 H01L2184
代理机构
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人
王永刚
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
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