成分测定系统、测定装置以及测定芯片

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201880086622.7

申请日：

2018-11-13

公开(公告)号：

CN111630375A

公开(公告)日：

2020-09-04

发明(设计)人：

森内健行相川亮桂

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01N2178

IPC分类号：

A61B5157 G01N3352

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

王培超;刘晓岑

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-11-20	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/78 申请日:20181113
2020-09-04	公开	公开

共 50 条

[1]

成分测定装置以及测定用芯片 [P].

泷浪雅夫 .

中国专利 :CN106233145A ,2016-12-14

[2]

成分测定装置、成分测定方法以及成分测定程序 [P].

相川亮桂 .

中国专利 :CN108463715A ,2018-08-28

[3]

成分测定装置以及成分测定方法 [P].

相川亮桂 ;

池田朋弘 ;

高木骏 .

日本专利 :CN120051681A ,2025-05-27

[4]

测定装置以及测定系统 [P].

绪方大树 ;

仓持美惠 .

中国专利 :CN113331786A ,2021-09-03

[5]

测定装置、测定系统以及测定方法 [P].

长井秀行 .

日本专利 :CN118103715A ,2024-05-28

[6]

测定方法、测定装置以及测定系统 [P].

村上健二 ;

伊藤直树 .

日本专利 :CN118818148A ,2024-10-22

[7]

测定装置以及测定系统 [P].

高木纯 ;

栗原洁 ;

高桥智纪 .

中国专利 :CN115334958A ,2022-11-11

[8]

测定装置以及测定系统 [P].

绪方大树 ;

仓持美惠 .

日本专利 :CN113331786B ,2025-02-25

[9]

测定装置以及测定系统 [P].

福田一生 ;

中西弘幸 ;

畑仁 .

中国专利 :CN103356200B ,2013-10-23

[10]

测定装置以及测定系统 [P].

御供田理沙 ;

兼田悠 .

中国专利 :CN110596206A ,2019-12-20

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