测试用例的筛选方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111075142.0

申请日：

2021-09-14

公开(公告)号：

CN113722234A

公开(公告)日：

2021-11-30

发明(设计)人：

郝振宇李博

申请人：

申请人地址：

100176 北京市北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层221室

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662

代理人：

孙剑锋

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-11-30	公开	公开
2021-12-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20210914

共 50 条

[1]

测试用例的筛选方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

郝振宇 ;

李博 .

中国专利 :CN113722234B ,2024-09-20

[2]

测试用例的筛选方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

农华莲 ;

韩照光 .

中国专利 :CN115658478A ,2023-01-31

[3]

测试用例筛选方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

李男 .

中国专利 :CN115017040B ,2024-10-22

[4]

测试用例筛选方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

李男 .

中国专利 :CN115017040A ,2022-09-06

[5]

回归测试用例的筛选方法、装置及电子设备、存储介质 [P].

曲亚南 ;

王欣 ;

李佩刚 ;

王越 .

中国专利 :CN115563004A ,2023-01-03

[6]

测试用例存储方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李霞 .

中国专利 :CN110543427A ,2019-12-06

[7]

测试用例的测试方法及装置、存储介质及电子设备 [P].

韩鑫 ;

宁宁 ;

谢向阳 .

中国专利 :CN118445186A ,2024-08-06

[8]

测试用例生成方法、测试用例生成装置、存储介质及电子设备 [P].

宋东辉 ;

朱丽青 ;

阳际荣 ;

陈锦海 .

中国专利 :CN119847920A ,2025-04-18

[9]

测试用例设计方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

贺丽红 ;

崔炳林 ;

王阳 ;

方杰 ;

陈金毅 ;

王艳 ;

王巍 ;

李腾飞 .

中国专利 :CN117573533A ,2024-02-20

[10]

测试用例复用方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

喻妍 ;

何渝君 ;

方清 ;

张磊 ;

邬明罡 .

中国专利 :CN114265767A ,2022-04-01

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