回归测试用例的筛选方法、装置及电子设备、存储介质

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申请号
CN202211317631.7
申请日
2022-10-26
公开(公告)号
CN115563004A
公开(公告)日
2023-01-03
发明(设计)人
曲亚南 王欣 李佩刚 王越
申请人
申请人地址
100005 北京市东城区建国门内大街69号
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人
杨泽;黄健
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
回归测试用例确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李霞 ;
杨伟楠 .
中国专利 :CN109828909A ,2019-05-31
[2]
回归测试用例的确定方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
邓结慧 ;
朱乐和 ;
梁琦 ;
卢树英 .
中国专利 :CN119473916A ,2025-02-18
[3]
测试用例的筛选方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
郝振宇 ;
李博 .
中国专利 :CN113722234A ,2021-11-30
[4]
回归测试用例筛选方法、装置、设备、存储介质及产品 [P]. 
袁野 ;
李晨阳 .
中国专利 :CN119357059A ,2025-01-24
[5]
测试用例的筛选方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
郝振宇 ;
李博 .
中国专利 :CN113722234B ,2024-09-20
[6]
测试用例的筛选方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
农华莲 ;
韩照光 .
中国专利 :CN115658478A ,2023-01-31
[7]
软件回归测试用例获取方法、装置及存储介质和电子设备 [P]. 
胡蕊利 .
中国专利 :CN107423214A ,2017-12-01
[8]
回归测试用例库的确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王丽 ;
李辉 ;
成文 .
中国专利 :CN117632741A ,2024-03-01
[9]
回归测试用例的确定方法、装置、存储介质和电子设备 [P]. 
魏义鹏 ;
张泓 ;
李岚 ;
何宗倩 ;
祝君平 .
中国专利 :CN120448265A ,2025-08-08
[10]
测试用例筛选方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
李男 .
中国专利 :CN115017040B ,2024-10-22