软件回归测试用例获取方法、装置及存储介质和电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710252931.4

申请日：

2017-04-18

公开(公告)号：

CN107423214A

公开(公告)日：

2017-12-01

发明(设计)人：

胡蕊利

申请人：

申请人地址：

310053 浙江省杭州市滨江区江南大道3588号恒生大厦

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京律智知识产权代理有限公司 11438

代理人：

袁礼君;姜怡

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-03-06	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G06F 11/36 变更事项:发明人变更前:胡蕊利变更后:胡蕊莉
2017-12-26	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20170418
2017-12-01	公开	公开
2021-03-19	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G06F 11/36 申请公布日:20171201

共 50 条

[1]

回归测试用例确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李霞 ;

杨伟楠 .

中国专利 :CN109828909A ,2019-05-31

[2]

回归测试用例的确定方法、装置、存储介质和电子设备 [P].

魏义鹏 ;

张泓 ;

李岚 ;

何宗倩 ;

祝君平 .

中国专利 :CN120448265A ,2025-08-08

[3]

回归测试用例的筛选方法、装置及电子设备、存储介质 [P].

曲亚南 ;

王欣 ;

李佩刚 ;

王越 .

中国专利 :CN115563004A ,2023-01-03

[4]

回归测试用例的确定方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

邓结慧 ;

朱乐和 ;

梁琦 ;

卢树英 .

中国专利 :CN119473916A ,2025-02-18

[5]

回归测试用例库的确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王丽 ;

李辉 ;

成文 .

中国专利 :CN117632741A ,2024-03-01

[6]

测试用例获取方法、装置、介质及电子设备 [P].

李国斌 .

中国专利 :CN119493723A ,2025-02-21

[7]

获取测试用例的方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

胡重 ;

李笑笑 ;

章海华 .

中国专利 :CN113934629A ,2022-01-14

[8]

测试用例的获取方法、装置、可读存储介质和电子设备 [P].

梁刚 .

中国专利 :CN109800169A ,2019-05-24

[9]

测试用例的获取方法及其装置、电子设备及存储介质 [P].

陆思桥 .

中国专利 :CN117573545A ,2024-02-20

[10]

测试用例存储方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李霞 .

中国专利 :CN110543427A ,2019-12-06

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